CdZnTe detectors; Crystal defects; DLTS; gamma-ray spectroscopy;
机译:Pb,Bi和In-掺杂CdZnTe检测器中的点缺陷:深层瞬态光谱(DLTS)测量
机译:Pb,Bi和In-掺杂CdZnTe检测器中的点缺陷:深层瞬态光谱(DLTS)测量
机译:使用大体积共面网格CdZnTe检测器进行硬X射线和γ射线测量
机译:使用I-DLT,TCT,I-V,C-V和γ射线光谱缺陷Cdznte检测器中的缺陷测量
机译:使用同步加速器白束X射线形貌研究CdZnTe和InP单晶中的缺陷生成。
机译:CdTe和CdZnTe X射线和γ射线探测器上自然氧化物生长的动力学
机译:PB - ,Bi-and in-In-In-In-In-ovznte探测器中的点缺陷:深度瞬态光谱(DLT)测量