n-p scattering cross section; CH_2sample;
机译:从H_2O-D_2O混合物中搜索keV中子的异常散射
机译:使用Medipix3检测器在电子显微镜中为60keV至200KeV的直接电子成像
机译:800 keV氩离子预损伤对暴露于60 keV氦离子的钨的氦起泡的影响
机译:搜索异常N-P STATCHING 60 EV - 140 Kev
机译:使用微波腔搜索140微米伪题和矢量暗物质
机译:有机离子对1 eV至60 keV电子诱导的DNA损伤的影响
机译:使用medipix3探测器在该范围内进行直接电子成像 电子显微镜中60keV至200keV
机译:N-p电荷交换散射在60和300 GeV / c之间的一些特征