built-in self test; integrated circuit testing; radiofrequency amplifiers; radiofrequency integrated circuits; 0.25 micron; 1.9 GHz; DSP cores; IBM 6RF process; RF low noise amplifiers; built in self test; functional specifications; self test time;
机译:使用新型RF BIST电路对5 GHz低噪声放大器进行低成本测试
机译:使用新型RF BIST电路的低成本测试技术,用于4.5-5.5 GHz低噪声放大器
机译:具有片上低Q电感器的CMOS低噪声放大器的噪声优化公式
机译:用于RF低噪声放大器的超快速片上BiST
机译:片上变压器建模,表征以及在功率和低噪声放大器中的应用。
机译:用于神经尖峰记录接口的低噪声放大器
机译:使用片上正交系列堆叠差分分形电感器的高性能窄带低噪声放大器设计为5G应用