approximation theory; failure analysis; fault simulation; inductance; reliability theory; semiconductor device reliability; transients; GOR failure rate; gate oxide reliability; inductance impact; inductance matrix; inductance modeling theory; mathematical approxima;
机译:碳化硅JFET的功能模型及其在分析栅极电阻的开关瞬态和冲击,米勒效应和寄生电感中的用途
机译:残余氯在CVD型栅极电极对氧化物可靠性的影响
机译:残余氯在CVD型栅极电极对氧化物可靠性的影响
机译:电感对瞬态的影响会影响栅极氧化物的可靠性
机译:用于45nm及以后工艺的氧化gate和硅酸ha栅氧化物的工艺开发,表征,瞬态松弛和可靠性研究。
机译:CF4等离子体处理HfO2栅电介质的非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的电性能和可靠性提高
机译:位错对siC mOs器件中栅氧化层和高可靠性ONO电介质的影响