DRAM chips; chip-on-board packaging; finite element analysis; interferometry; life testing; reliability; silver alloys; solders; tin alloys; 3D finite element model; BOC package; DDR-II DRAM; SnAgCu; SnPb; ball pad design; board-on-chip package; fatigue life; moire inter;
机译:电信应用的TFBGA封装的板级焊点可靠性建模和测试
机译:预测半导体封装中焊点可靠性的方法
机译:晶圆级包装焊点可靠性失效评估的蠕变模型的可行性评估
机译:用于DDR-II DRAM应用的芯片片封装的预测焊点可靠性评估
机译:用于高级封装应用的无铅焊点的电迁移和热迁移可靠性。
机译:锡膏合金的可靠性研究以改善表面安装细间距元件的焊点
机译:考虑设计因素相互作用的BGa封装焊点可靠性评估新方法