首页> 外文会议>電子情報通信学会;電子情報通信学会総合大会 >ばらつきを加速させたモンテカルロシミュレーションによるSRAM の書き込み限界推定
【24h】

ばらつきを加速させたモンテカルロシミュレーションによるSRAM の書き込み限界推定

机译:通过蒙特卡罗模拟对SRAM的写极限进行估计,并具有可变性

获取原文

摘要

MOS トランジスタの微細化に伴い,しきい値電圧(Vth)のランダムなばらつきが増大し,多ビットのSRAM の安定動作が困難になっている.SRAM 設計においてVth のばらつきに対する動作限界を見極める手段として,モンテカルロシミュレーション(MCS)が有効であるが,シミュレーション回数が膨大になってしまうという欠点がある.筆者らはばらつきを加速することによって,従来より簡単にSRAM の書き込み限界を推定する方法を提案し,一部のしきい値条件に対してその有効性を示したが,今回さらに広い条件で本手法の有効性を検証したので報告する.
机译:MOS晶体管小型化的阈值电压(Vth) 增加了多位SRAM的随机可变性 操作困难。 SRAM设计中的Vth玫瑰 蒙特卡尔(Montecal)作为确定粘着极限的一种手段 B模拟(MCS)有效,但模拟 缺点是次数很多。作者 通过加速可变性比以往任何时候都更容易 我们提出了一种估计SRAM写入限制的方法,其中一些方法 我们已经展示了其在阈值条件下的有效性,但是这次更多 我们报告了这种方法在各种条件下的有效性。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号