silicon-on-insulator; SRAM chips; radiation hardening (electronics); integrated circuit reliability; semiconductor device reliability; SRAM SER; SOI technologies; soft error rate; Monte Carlo modeling; radiation sources; 180 nm; 130 nm; 90 nm;
机译:低于130nm技术节点的商用SOI和批量SRAM的软错误率比较
机译:使用散装核探针和技术节点为90 nm的SOI SRAM评估软错误率
机译:总电离剂量对130nm PD SOI SRAM单事件翻转灵敏度的影响
机译:SRAM SER在90,130和180 nm散装和SOI技术
机译:利用婴儿床组件的新型超宽温度范围(-180至+130 C)直流电动机驱动器的热和电气设计。
机译:180Vpp集成线性放大器用于高压CMOS SOI技术中的超声成像应用
机译:BEOL对SOI180,SOI90和CMOS180,CMOS90技术的影响对IC性能影响