MOSFET; semiconductor device breakdown; semiconductor device reliability; semiconductor device models; electric breakdown; NBTI degradation modeling; electric field dependence; lifetime; Negative Bias Temperature Instability; p-MOSFETs; stress gate voltages; empirical models; kinetic models;
机译:NBTI饱和效应的建模及其对寿命中电场依赖性的影响
机译:NBTI降级的脉冲-应力依赖性及其对电路的影响
机译:泽克实验中莱德伯格状态的寿命3。 NO的离解寿命的直流电场相关性的计算
机译:NBTI降解的建模及其对寿命电场依赖性的影响
机译:在重型混合动力汽车的基于生命周期成本的设计优化中对电池退化的影响进行建模。
机译:基于Histographs心房组织的二维计算机模型描述显微组织对心内潜力和电近场的电解剖影响
机译:InGaN太阳能电池性能对极化感应电场和载流子寿命的依赖性