Current measurement; Electrical resistance measurement; Materials; Nanoscale devices; Pollution measurement; Resistance; Semiconductor device measurement;
机译:用原子力显微镜/开尔文探头力显微镜/扫描电容力显微镜通过原子力显微镜MOSFET在纳米级横截面观察
机译:腐蚀科学中的高分辨率开尔文探针显微镜:扫描开尔文探针力显微镜(SKPFM)与经典扫描开尔文探针(SKP)
机译:扫描电容显微镜和开尔文探针显微镜在确定Si均匀结构的二维掺杂轮廓中的比较
机译:纳米尺度的电气传输:扫描散布电阻,扫描电容和扫描kelvin探针
机译:砷化镓(001)上砷化铟高度应变外延的扫描探针显微镜研究,以及基于扫描探针的纳米级三维物体的成像和操作。
机译:P01.54。穴位电位:使用扫描开尔文探针
机译:双镜片电子全息,扫描电容显微镜(SCM),扫描抗膨胀电阻显微镜(SSRM)比较半导体2-D结表征