机译:铸造多晶硅锭体自由载流子寿命的非接触式测量
机译:非接触微波技术测量硅晶片中非平衡载流子复合寿命
机译:用于确定具有p-n结的硅晶片中次要载流子寿命的非接触式设备
机译:微波非接触法测量硅晶片中非平衡载流子的有效寿命
机译:使用反向恢复瞬态方法测量纳米晶硅器件中少数载流子的寿命。
机译:用于非接触氧化过程表征和炉分析的少数载流子寿命测量
机译:一种用于确定硅晶片中的载流子迁移率和的非接触方法
机译:si,GaN和alGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEmT)晶片的非接触迁移率,载流子密度和薄层电阻测量。