Department of Electronic, Information Systems and Energy Engineering Osaka University, Yamada-oka 2-1, Suita, Osaka 565-0871, Japan;
机译:使用笔形束DT中子源进行的带电粒子光谱法用于双差截面测量
机译:测量聚变反应堆几种材料的双微分带电粒子发射截面的新方法
机译:14.2 MeV中子的氟带电粒子发射双微分截面的测量
机译:一种使用铅笔束DT中子测量双差速带电粒子发射横截面的新技术
机译:使用旋转目标中子源测量氩38(n,2n)氩37和钙40(n,α)氩37的横截面以及国家点火设施的混凝土活化。在14 MeV下测量铍9(n,γ)铍10横截面的实验设计。
机译:在...公式... ...公式... pp碰撞中测量顶级夸克对产生的双微分横截面以及对parton分布函数的影响
机译:6LI,7LI和9BE的双差分中子发射横截面为11.5meV和18.0MeV中子测量。
机译:用于裂变和聚变堆技术的14 meV中子诱导双差分中子发射截面的测量与分析。 1988年4月20日至22日在维也纳举行的第一次研究协调会议摘要报告。