DEI-“Guglielmo Marconi” Univ. of Bologna Cesena Italy;
Negative bias temperature instability; TCAD simulations; U-MOSFET; oxide charge trapping/de-trapping; recovery mechanisms; stress/recovery conditions;
机译:根据在不同温度下测得的电容-电压特性确定In_(0.53)Ga_(0.47)As MOS电容器中氧化物边界陷阱的能量和空间分布
机译:功率MOSFET中的空间和光谱氧化物陷阱分布
机译:陷阱具有任意能量分布的氧化物半导体薄膜晶体管的场效应迁移率模型
机译:对P沟道电源U-MOSFET中NBTI负责的空间和能量氧化物陷阱分布
机译:深地震空间分布:俯冲岩石圈内应力和储能弹性能量分布的数值模拟。
机译:从空间生态学到空间流行病学:使用相邻矩阵的主坐标对不同癌症类型的空间分布进行建模
机译:DC - AC NBTI应力 - P沟道平面散装和FDSOI MOSFET和FINFET的恢复时间动力学建模