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A proposal of LDMOS using Deep Trench poly field plate

机译:LDMOS使用深沟多晶硅场板的建议

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摘要

In this paper, we developed Deep Trench structure of LDMOS instead of STI in conventional one, with 0.18um 60V BCD process. By forming vertical drift region using Deep Trench, we achieved lower Ron.sp from cell pitch shrink while BVdss does not change. As a result we achieved 76V BVdss and 49.3 mohm*mm2 Ron.sp of low side 60V rated LDNMOS.
机译:在本文中,我们采用0.18um 60V BCD工艺开发了传统的LDMOS的深沟道结构,而不是STI。通过使用深沟槽形成垂直漂移区,我们从单元间距缩小获得了较低的Ron.sp,而BVdss却没有变化。结果,我们获得了低侧60V额定LDNMOS的76V BVdss和49.3 mohm * mm2Ron.sp。

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