IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA;
IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA;
IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA;
IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA;
IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA;
机译:硅锗衬底上带有应变硅沟道的短沟道双材料栅MOSFET的亚阈值电流和亚阈值摆幅分析模型
机译:硅锗(SiGe)衬底上带有应变硅(s-Si)沟道的短沟道双材料栅极(DMG)MOSFET阈值电压的分析模型
机译:绝缘体上锗化硅(SGOI)MOSFET上堆叠式三材料门(TMG)应变硅(s-Si)的阈值电压的解析模型
机译:用于硅,硅锗和III-V通道MOSFET的门堆叠
机译:硅/硅锗/硅P沟道MOSFET中电荷分布的表征和建模。
机译:分立工程用于嵌入式硅控整流器的高压60V n沟道横向扩散MOSFET的瞬态传感和可靠性改善。
机译:硅锗(SiGe)衬底上带有应变硅(s-Si)沟道的短沟道双材料栅极(DMG)MOSFET阈值电压的分析模型