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首页> 外文会议>Conference on Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers VIII; 20040128-20040129; San Jose,CA; US >Reliability of Oxide VCSELs at Emcore
【24h】

Reliability of Oxide VCSELs at Emcore

机译：Emcore上的氧化物VCSEL的可靠性

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Recent data on 10 Gb/s oxide VCSELs are presented. We cover failure analysis results on VCSELs that failed in the field, including failures due to electrostatic discharge (ESD) and those inherent to the limitations of the present mesa structure used in oxide VCSELs. An ongoing experiment to overcome these limitations is discussed.
机译：介绍了有关10 Gb / s氧化物VCSEL的最新数据。我们涵盖了在现场发生故障的VCSEL的故障分析结果，包括由于静电放电（ESD）引起的故障以及由于氧化物VCSEL中使用的当前台面结构的局限性所固有的故障。讨论了克服这些局限性的正在进行的实验。

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