Institute of Optoelectronics MUT, 2 Kaliskiego Str., 00-908 Warsaw, Poland;
Telecommunications Research Institute (PIT), 30 Poligonowa Str., 04-051 Warsaw, Poland;
detectors calibration; EUV radiation; nanolithography;
机译:成像极紫外光谱仪-检测器系统的灵敏度校准,用于确定宽带极紫外光源的效率
机译:光电导金刚石探测器的特性-光刻用候选真空紫外辐射和极紫外辐射光源探测器
机译:氩气迷你电弧满足其要求:在紫外线检测器校准中使用激光驱动的等离子体源
机译:极端紫外探测器的校准程序
机译:强烈的毛细管放电等离子体极紫外光源,用于极紫外光刻和其他极紫外成像应用。
机译:校正塑料闪烁探测器中切伦科夫光效应的光谱方法:在切伦科夫光为主的情况下校准程序和验证的比较研究
机译:光电导金刚探测器的表征 - 候选真空紫外线辐射和极端紫外线辐射光源检测器的光刻 -
机译:开发RaIDs(远程大气和电离层探测器系统)极紫外楔和带状探测器。