Philips Research Leuven, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium;
机译:具有低于50nm栅极的基于InP的超高速HEMT-侧栅极凹槽和寄生电阻对高速性能的影响
机译:具有低于50nm栅极的基于InP的超高速HEMT-侧栅极凹槽和寄生电阻对高速性能的影响
机译:基于超高速INP的底部,具有Sub-50-nm栅极 - 侧栅凹槽的影响和寄生电阻高速性能
机译:寄生电阻对高速SiGE-HBT的F_T优化的影响
机译:高速VLSI系统中的寄生建模和信号完整性问题
机译:缓解SiGe-HBT电流模式逻辑电路中的单事件效应
机译:寄生电阻对最大功率点跟踪(MPPT)系统中降压和升压转换器的输入电阻的影响