Fraunhofer Institute of Integrated Systems and Device Technology Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, Germany;
机译:单材料闸门,双层材料闸门和三重材料栅极FINFET之间的比较分析:RF /模拟和数字逆变性能
机译:抑制宽通道三栅极体FinFET的转角效应
机译:TCAD仿真研究单,双层和三重材料闸门工程磨削
机译:双栅极和三栅极FinFET中的转角效应
机译:用于能效的Sub-10nm双栅极FinFet的装置电路分析
机译:在存在随机界面陷阱的情况下16nm栅极高κ/金属栅极体FinFET器件的电特性波动
机译:具有独立门的平面双栅极和FinFET中双极放大的3-D仿真分析