Electr. Comput. Eng. Dept., Northeastern Univ., Boston, MA, USA;
circuit simulation; flicker noise; phase change memories; HSPICE simulation; array-level; binary PCM memories; cell-level; flicker noise impact evaluation; memory cell; phase change memories; simulation-based analysis; spike noise impact evaluation; state switching phenomena; 1f noise; Arrays; MOSFET; Phase change materials; Resistance; Switches; Flicker noise; Frequency; Phase Change Memory (PCM); Resistance; Spike noise;
机译:基于非晶硫属化物的相变存储器件中孔结构的闪烁噪声的可靠性建模和分析
机译:45纳米复位状态相变存储设备中的$ hbox {1} / f $噪声:表征,对存储器读出操作的影响和缩放角度
机译:闪烁噪声和随机游走噪声对具有有限传播延迟的锁相环的影响
机译:评估穗和闪烁噪声在相变回忆中的影响
机译:相变存储器设备中的瞬态相位变化效果
机译:在相变记忆(PCM)突触中通过尖峰时序相关可塑性进行无监督学习
机译:使用相变材料掺入神经网络的光子内存计算原语