Department of Electrical Communication Engineering Centre for Nano Science and Engineering (CeNSE) Indian Institute of Science, Bangalore 560012, Indiac;
constant voltage stress (CVS); equivalent oxide thickness (EOT); metal-insulator-metal (MIM) capacitor; reliability; titanium oxide (TiO2); zirconium oxide (ZrO2);
机译:具有Ge稳定的四方ZrO2 /非晶La掺杂ZrO2电介质的高性能金属-绝缘体-金属电容器
机译:快速热退火和微波退火对Zro2金属 - 绝缘金属电容器电性能的影响
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机译:高性能堆叠TiO2-ZrO2和Si掺杂ZrO2金属绝缘体 - 金属电容器
机译:具有明显电气长度的金属-绝缘体-金属(MIM)电容器的模型级简化方法。
机译:SO2对V2O5-CeO2 / TiO2-ZrO2催化剂上NOx选择性催化还原的影响
机译:超薄ZrO2 / SrO / ZrO2绝缘叠层,适合未来的动态随机存取存储电容器应用