首页> 外文会议>2014 7th International Silicon‐Germanium Technology and Device Meeting >Use of X-ray techniques in the development and production of novel transistor structures
【24h】

Use of X-ray techniques in the development and production of novel transistor structures

机译:在开发和生产新型晶体管结构中使用X射线技术

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摘要

X-ray techniques are indispensable tools for characterization of strained layers during different stages of process development and integration. Even when precise information cannot be obtained in some cases, in combination with other techniques it gives a fast and important feedback.
机译:X射线技术是在工艺开发和集成的不同阶段表征应变层必不可少的工具。即使在某些情况下无法获得准确的信息,也可以结合其他技术提供快速而重要的反馈。

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