Department of Electronics and Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Guwahati, Guwahati, India;
Junctionless transistor (JLT); process-induced variations; scaling; subthreshold slope; symmetric DGMOS;
机译:基于对称双栅Si结晶体管的单晶电机动态随机存取存储器仿真
机译:基于双栅GaAs无结晶体管的无电容单晶体管动态随机存取存储器
机译:估算和补偿纳米级隧道场效应晶体管中过程引起的变化,以提高可靠性
机译:双栅极连接晶体管过程诱导变化的估计
机译:无结场效应晶体管中的纳米级效应
机译:双栅极薄膜晶体管悬挂式栅极适用于触觉力传感器
机译:si双栅极无结晶体管的空穴迁移率模型