Institute of Microelectronic Systems, Darmstadt University of Technology, Darmstadt, Germany;
DG SOI MOSFET; analytical modeling; silicon electrostatic potential;
机译:基于计算有效但精确的表面势的对称DG MOSFET解析模型,以预测电流电压特性
机译:包含无掺杂体的对称DG MOSFET的I-V解析关系与场相关性
机译:未掺杂对称双栅MOSFET沟道电势的解析解
机译:一种计算有效的方法,用于分析未掺杂的对称DG SOI MOSFET中的电势
机译:适用于部分耗尽型绝缘体上硅(SOI)MOSFET的面积有效体接触。
机译:具有位置载流子散射相关性的准弹道漏电流电荷和电容模型对纳米级对称DG MOSFET有效
机译:一种计算上有效的精确假序方法。 I. Phillips-Kleinman理论的分析重构