Accelicon Technologies, Inc., 19925 Stevens Creek Blvd, Cupertino, CA 95014, USA;
Pulse broadening; Single Event Transient (SET); Soft Error Rate (SER);
机译:通过在对流尺度上采样模型错误来模拟子级过程的模型不确定性
机译:通过在对流尺度上采样模型误差模拟子级过程的模型不确定性
机译:通过在对流尺度上采样模型误差模拟子级过程的模型不确定性
机译:在大规模技术中基于单元的设计中表征,建模和模拟软错误敏感性
机译:用于建模和缓解纳米级静态CMOS逻辑电路中软错误的有效技术
机译:在基于细胞的疗法中启用技术:按比例放大按比例缩小或就地编程
机译:FASER:基于单元的设计的软错误敏感性的快速分析