Center for Device Thermography and Reliability (CDTR), School of Physics, University of Bristol, UK;
GCR; MOS; Radiation effects; Shielding; Single Event Effects; Soft Error Rate; galactic cosmic rays;
机译:航天器屏蔽结构对银河系宇宙射线诱发的软错误率的影响
机译:小于130 nm技术的航天器屏蔽对直接电离软错误率的影响
机译:金属板电容器结构对静态随机存取存储器加速软错误率的影响
机译:航天器屏蔽结构对银河宇宙射线诱导软错误率的影响
机译:银河宇宙射线屏蔽材料仿真
机译:关于宇宙中地下环境中银河系宇宙射线诱发的以辐射分解为生命的生命的可能性
机译:低于130 nm技术的航天器屏蔽对直接电离软错误率的影响
机译:航天器屏蔽对130nm以下技术直接电离软错误率的影响