近表面缺陷的超声TOFDR和TOFDW 检测

摘要

针对超声TOFD方法存在近表面检测盲区的问题，提出了基于二次波的综合超声衍射反射回波方法（TOFDR）和纵波三次W衍射反射方法（TOFDW）的检测模式。分析了TOFDR 和TOFDW 两种检测方法的超声传播特性，阐明了两种方法的检测原理，研究了两种检测方法的近表面理论检测能力。对于TOFDR 检测方法，缺陷越近表面，D扫图像分辨特征越好。对于TOFDW 检测方法，总体分辨能力大于TOFDR 方法，但对于特别浅的近表面缺陷，波形难以识别。最后通过人工缺陷检测，研究了综合两种检测方法下的新检测模式的信号图像特征以及检测灵敏度，两种检测方法结合产生的D扫图像能很好的发现埋藏深度为1mm的缺陷。