一种原位透射电镜样品制备的新方法

摘要

透射电子显微镜(TEM)是地球科学研究进入纳米尺度的关键仪器,透射电镜高分辨像与电子衍射是研究矿物晶体结构的重要手段之一,同时配合其他附件还可获得纳米尺度下矿物的元素组成、空间分布以及价态信息等.随着TEM样品制备手段的不断发展,TEM在研究微纳尺度矿物晶体结构、元素赋存状态、微区元素分布等方面已得到广泛关注.本文基于聚焦离子束和超薄切片法，开发了一种制备TEM超薄样品的新方法。本方法可原位提取感兴趣矿物颗粒，获得该颗粒的一系列的超薄切片，并且薄片表面不会引入上述污染。