一种全工况下高精度的集成电路时序检测方法

摘要

目前集成电路受到器件工艺、温度和电压等因素影响,时序呈现非线性变化,导致集成电路仿真模拟的时序模型和实际运行情况存在较大时序差异.为了监测全工况下集成电路内部实际时序延时,提出了一种全工况下高精度集成电路时序检测方法,可以实时准确检测集成电路运行时序是否发生违例,并测量集成电路关键路径的时序参数值.通过在AES IP核中测试实验表明,该方法时序检测精度可达18ps,且占用资源小无需外部专用测试仪器,可应用于复杂环境下型号集成电路时序的定量评估.在Razor等工作的基础之上，设计了一种全工况下的高精度集成电路时序检测方法，用于实时检测电路中关键路径的时序违例情况和时序裕量，包括建立时间和保持时间。