阳极氧化膜膜厚测定显微法和涡流法对比试验

摘要

阳极氧化膜膜厚的测定常用的方法是涡流法,涡流法是一种非破坏的无损测量方法,优点是操作方便快捷,可进行高速检测;缺点是不适用于形状复杂的零件,检测结果也易于受到材料本身及其他因素的干扰.显微镜法作为标准要求的仲裁试验方法,其优点是检测结果直观、可靠;缺点是操作相对复杂、耗时较长,会对材料造成一定程度的损坏.通过对比两种检测方法,以寻找涡流法在实际应用中的局限性和显微镜法作为仲裁试验方法的合理性.