XRD法测定超稳分子筛晶胞参数

摘要

应用X射线衍射技术,研究了超稳分子筛的微观结构,根据最小二乘法求得最佳外推直线,用外推函数法消除系统误差,结合外标工作曲线,经计算机精密计算,得到超稳分子筛的精确晶胞参数,通过衍射仪对超稳分子筛进行晶胞参数分析,找出影响测定晶胞参数的规律.结果表明,用该方法侧的得超稳分子筛晶胞参数比传统的方法省时,简便,更加精确.