一种集成电路设计缺陷排查方法

摘要

本文详细介绍了目前一种较流行的集成电路,即片上系统(SoC)流片后如何查错的大概流程。并且对发现的具体问题进行了重现、定位、分析与更正。其中,使用测试链采样方法快速定位,及Spice工具仿真方法准确分析成为SoC芯片缺陷排查方法的亮点。最终为SoC的成功上市赢得了宝贵的时间。