基于遗传算法改进GM(1，1)模型的元器件非工作可靠性参数预测

摘要

针对灰色预测GM(1，1)模型的缺点，本文引入遗传算法改进的灰色模型，并利用其对某集成运放的非工作可靠性参数进行预测。实例计算表明，遗传算法优化的GM(1，1)，模型预测精度有所提高，验证了该方法具有正确性与有效性。