大规模数字集成多功能LED老化分析测试系统

摘要

本文介绍了一种基于大规模数字集成电路的多功能LED老化分析测试系统。该系统可以在恒流、恒压、恒亮度三种不同驱动模式下同时对512路LED器件进行寿命测试，并可实现对测试环境温度和湿度的精确控制，加速器件老化。本系统具有高精度，宽的测试范围，操作电压可达到24V，操作电流可从0.02mA到100mA。系统采用模块化设计，可以根据用户需求灵活的搭建16路、64路、128路、256路、512路测试系统。基于Labview开发环境编写的系统软件，具有非常友好的操作界面和断电自保护功能，保证测试的连续性。该套设备依照工业级的技术标准进行研制，它的成功研制，可以促进LED器件老化机制的基础研究，对于提高LED器件的寿命，促进LED的产业化进程、提高我国在半导体照明和有机发光显示领域的研究地位具有重要意义。