首页> 中文会议>2010中国材料研讨会 >Si基底磁控溅射制备CrN薄膜表面形貌与生长机制研究

Si基底磁控溅射制备CrN薄膜表面形貌与生长机制研究

摘要

CrN薄膜硬度高、高温抗氧化性、耐磨性及抗腐蚀性能好,越来越受到重视。目前采用磁控溅射法制备CrN薄膜的研究主要集中在制备工艺、合金化、多层化以及性能和应用等方面,对CrN薄膜的生长以及表面形貌演变的认识还不够深入。在Si基底上采用直流磁控溅射法制备CrN薄膜,利用原子力显微镜(AFM)、扫描电镜(SEM)和X射线衍射(XRD)分析薄膜表面形貌和物相成分,探讨了薄膜生长的动力学过程。结果表明,只有当生长时间足够长(1800s)时,才能形成具有CrN相的薄膜。随着CrN薄膜的生长,薄膜表面晶粒由三棱锥发展为三棱锥与胞状共存状,薄膜表面粗糙度逐渐增大,动力学生长指数β=0.50。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号