反常霍尔效应
反常霍尔效应的相关文献在1999年到2022年内共计112篇,主要集中在物理学、无线电电子学、电信技术、一般工业技术
等领域,其中期刊论文86篇、会议论文5篇、专利文献36435篇;相关期刊66种,包括今日科苑、物理教学、材料导报等;
相关会议5种,包括第十三届中国国际纳米科技(成都)研讨会、第十四届全国磁学和磁性材料学术会议暨第二届全国磁热效应材料和磁制冷技术学术研讨会、第十二届全国固体薄膜会议等;反常霍尔效应的相关文献由185位作者贡献,包括李宝河、俱海浪、刘帅等。
反常霍尔效应—发文量
专利文献>
论文:36435篇
占比:99.75%
总计:36526篇
反常霍尔效应
-研究学者
- 李宝河
- 俱海浪
- 刘帅
- 于广华
- 王亚愚
- 俞金玲
- 张金松
- 朱涛
- 李海
- 杨晓非
- 王永超
- 程鹏
- 陈涌海
- 于长秋
- 何珂
- 冯硝
- 刘伟
- 刘雪梅
- 向萍萍
- 吕力
- 吴少兵
- 周铁军
- 姜坤
- 常翠祖
- 张安琪
- 张志东
- 张捷
- 张瑞轩
- 息剑峰
- 李绍锐
- 李耀鑫
- 杨利廷
- 杨辰迪
- 温嘉红
- 王伟
- 王洪信
- 王立莉
- 程树英
- 薛其坤
- 裴科
- 赖云锋
- 赵娜
- 赵泽军
- 赵艳伟
- 车仁超
- 邢玮玮
- 郑巧
- 郜壮壮
- 陈实
- 陈晓白
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刘晓伟;
熊俊林;
王利铮;
梁世军;
程斌;
缪峰
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摘要:
范德瓦耳斯层状铁磁材料不但为基础磁学的前沿研究提供了重要的平台,同时在下一代自旋电子器件中展示了广阔的应用前景.本文利用化学气相传输方法生长了高质量的、具有本征铁磁性的Ta_(3)FeS_(6)块材单晶.通过机械剥离法得到厚度19—100 nm的Ta_(3)FeS_(6)薄层样品,并发现相应的居里温度在176—133 K之间.低温反常霍尔测量表明Ta_(3)FeS_(6)样品具有面外的铁磁性,其矫顽场在1.5 K可达到7.6 T,这是迄今为止在范德瓦耳斯铁磁薄膜材料中报道的最大数值.此外,在变温过程中,还观察到磁滞回线极性的翻转.相比于通常的范德瓦耳斯磁性材料,Ta_(3)FeS_(6)具有空气稳定性和极大的矫顽场,这为探索稳定的、可小型化的范德瓦耳斯自旋电子器件研究开辟了全新的平台.
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张伟;
陈翰韬;
张伶育;
全志勇
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摘要:
亚铁磁材料因具有反铁磁排列的子晶格磁矩而表现出诸多丰富的物理性质,在磁信息存储和逻辑领域具有广阔的应用前景.本文采用磁控溅射方法在热氧化的硅基片上制备了Pt/GdFeCo(t)/Pt多层膜,系统研究了亚铁磁GdFeCo厚度对多层膜的表面形貌、结构、磁性以及反常霍尔效应(AHE)的影响.结构测试表明薄膜表面粗糙度较小,且GdFeCo层为非晶态;实验中利用GdFeCo层厚度可有效控制Gd元素含量,从而调控GdFeCo趋近反铁磁态特性的磁矩补偿点;通过重金属强自旋轨道耦合效应(SOC)和非晶态亚铁磁薄膜面内压应力,实现了良好垂直各向异性(PMA);进一步阐明了亚铁磁薄膜中磁性和反常霍尔效应的内在产生机制以及磁矩补偿点与温度的内在关系.这些结果为构建新一代低功耗自旋电子器件奠定基础.
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杨萌;
白鹤;
李刚;
朱照照;
竺云;
苏鉴;
蔡建旺
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摘要:
垂直磁各向异性稀土-铁-石榴石纳米薄膜在自旋电子学中具有重要应用前景.本文使用溅射方法在(111)取向掺杂钇钪的钆镓石榴石(Gd0.63Y2.37Sc2Ga3O12,GYSGG)单晶衬底上外延生长了2—100 n m厚的钬铁石榴石(Ho3Fe5O12,HoIG)薄膜,并进一步在HoIG上沉积了3 nm Pt薄膜.测量了室温下HoIG的磁各向异性和HoIG/Pt异质结构的自旋相关输运性质.结果显示,厚度薄至2 nm的HoIG薄膜(小于2个单胞层)在室温仍具有铁磁性,且由于外延应变,2—60 n m厚HoIG薄膜都具有很强的垂直磁各向异性,有效垂直各向异性场最大达350 mT;异质结构样品表现出非常可观的反常霍尔效应和"自旋霍尔/各向异性"磁电阻效应,前者在HoIG厚度小于4 nm时开始缓慢下降,而后者当HoIG厚度小于7 nm时急剧减小,说明相较于反常霍尔效应,磁电阻效应对HoIG的体磁性相对更加敏感;此外,自旋相关热电压随HoIG厚度减薄在整个厚度范围以指数方式下降,说明遵从热激化磁振子运动规律的自旋塞贝克效应是其主要贡献者.本文结果表明HoIG纳米薄膜具有可调控的垂直磁各向异性,厚度大于4 nm的HoIG/Pt异质结构具有高效的自旋界面交换作用,是自旋电子学应用发展的一个重要候选材料.
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王来森;
武文斌;
张钦福;
彭栋梁
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摘要:
磁性纳米粒子组装颗粒膜的电磁输运特性一直是凝聚态物理领域的研究热点之一.以原位组装的策略制备磁性颗粒膜,可以将磁性纳米粒子的制备和薄膜的组装过程分开,实现磁性颗粒膜中颗粒尺寸、颗粒间距等微结构要素的独立调控,为揭示磁性颗粒膜电磁输运特性的微观机制创造条件.本文总结了近年来磁性纳米粒子组装颗粒膜的制备及其电磁输运特性的主要研究成果,包括磁性颗粒膜的可控制备、电阻温度依赖性、导电机制,以及磁性颗粒膜的反常霍尔效应和标度理论.
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王桂玲;
赵泽军;
刘帅;
息剑峰;
李宝河
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摘要:
采用磁控溅射方法在单面附有300 nm SiO2的单晶硅基片上制备了以Pt为底层的CoSiB/Pt多层膜样品.CoSiB/Pt层周期数确定为2,对样品底层厚度及周期层厚度进行调制,根据反常霍尔效应系统地研究了CoSiB/Pt多层膜垂直磁各向异性(perpendicular magnetic anisotropy,PMA)及薄膜的热稳定性.通过对这些参数的调节获得了具有良好垂直磁各向异性的最佳多层膜样品结构Pt(1)/[CoSiB(0.5)/Pt(1)]2,底层Pt和周期层中CoSiB,Pt的最佳厚度分别为1,0.5 nm和1 nm.对最佳样品进行XRD图谱分析,磁滞回线测量以及一系列退火处理.结果表明,样品具有明显的(111)CoPt衍射峰,形成了较好的(111)织构,界面耦合增强,结晶度较好,计算出样品的有效磁各向异性常数Keff达到5.11×104 J·m-3,样品具有良好的PMA;当退火温度为200°C时,样品的CoPt(111)峰强度显著增强,界面形成了较强的(111)织构,Keff达到最大值1.0×105J·m-3,当退火温度不超过400°C时,样品仍能保持良好的PMA.多层膜样品结构Pt(1)/[CoSiB(0.5)/Pt(1)]2具有良好的PMA和热稳定性,且合适的退火温度有利于提高样品的PMA.
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宿刚
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摘要:
通过分子束外延法生长了铁(211)单晶薄膜,得到了反常霍尔效应中非本征的side jump贡献的系数是-412 S/cm,与其他对称方向([001]、[111]、[110])的数据对比,首次发现铁薄膜非本征的side jump贡献的系数是负值,这为理论预言side jump贡献的符号因不同类型的散射相互竞争而发生改变提供了实验支持.
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武政
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摘要:
霍尔效应家族自1879年发展至今已有一个多世纪,从1879年的霍尔效应到2013年的反常量子霍尔效应的实验发现,霍尔效应家族理论和实验逐渐完善.本文将阐明霍尔效应家族的发展历史,简述其研究现状,并对其未来研究趋势与应用前景做出展望.
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Hailang Ju;
俱海浪;
Baohe Li;
李宝河;
Xiaobai Chen;
陈晓白;
Shuai Liu;
刘帅;
Guanghua Yu;
于广华
- 《第十三届中国国际纳米科技(成都)研讨会》
| 2014年
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摘要:
采用直流磁控溅射法在玻璃基片上制备了Pt底层的Co/Ni多层膜材料样品,通过样品的反常霍尔效应来研究多层膜的垂直磁各向异性.对影响样品垂直磁各向异性的各因素进行了调制,系统的研究了底层Pt厚度、周期层中Co层厚度、Ni层厚度和多层膜周期数对样品反常霍尔效应的影响.结果表明,多层膜中各层的厚度及周期数对样品的反常霍尔效应和磁性有重要的影响.通过对多层膜各个参数的调制优化,经过分析测量,最终在实验上获得了最佳样品,其结构为Pt(2)/Co(0.2)/Ni(0.4)/Co(0.2)/Pt(2),该样品霍尔曲线的矩形度非常好,具有良好的垂直磁各向异性,并且该样品总厚度在5nm以内,可更为深入的研究其与元件的集成性.
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张晓倩;
赖柏霖;
何亮;
徐永兵
- 《第十二届全国分子束外延学术会议》
| 2017年
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摘要:
半金属磁性材料由于在费米面附近只存在一种自旋取向的电子,理论而言它的自旋极化率为100%,对于自旋注入起到了关键作用1.利用分子束外延技术(MBE)生长出了高质量的heusler合金Co2FeAl薄膜,并且测量其输运性质.发现当Co2FeAl薄膜厚度减小到10ML(1ML=0.14nm)时,R-T曲线表现为半导体的性质(Fig.1).认为,由于薄膜属于岛状生长模式,当薄膜厚度减小到10ML时,Co2FeAl形成的是一个个的团簇,他们之间并没有连接到一起,所以电流通过时,是通过邃穿的模式使得电流通过,所以呈现出半导体的特性.
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沈静琴;
郑毅;
许奕;
冯春木;
许祝安
- 《第七届全国超导学术研讨会》
| 2003年
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摘要:
利用脉冲激光沉积(PLD)方法制备了c轴取向的高质量YBa2(Cu1-xZn)3O7-δ(x=0,0.01,0.02)外延薄膜.超导临界温度随Zn掺杂量增加而较快地下降,与单晶样品的结果相符.在强磁场下的输运测量发现YBa2(Cu1-xZn)3O7-δ系列样品在Tc附近均出现反常的Hall电阻率符号反向,但其Hall电导率σxy随磁场的变化关系与氧欠掺杂的YBa2Cu3O6.66存在很大差异,说明Zn掺杂和氧掺杂对混合态中的磁通涡旋性质的影响有显著不同.
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- 清华大学
- 公开公告日期:2020.12.01
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摘要:
本发明公开了一种量子反常霍尔效应薄膜微结构器件的制备方法,具体步骤如下:在拓扑绝缘体材料的Al2O3层上匀涂电子束胶作为保护层;在保护层上匀涂紫外正性光刻胶;采用光刻工艺将掩膜的图形转移到紫外正性光刻胶上;采用等离子去胶机去除刻蚀图形的保护层;利用离子束刻蚀机在拓扑绝缘体材料上刻蚀Al2O3层及Cr掺杂(Bi,Sb)2Te3层,将掩膜的图形转移到拓扑绝缘体材料上;利用丙酮及异丙醇洗掉剩余的保护层和紫外正性光刻胶,干燥,得到量子反常霍尔效应薄膜微结构器件。本发明避免普通光刻工艺显影阶段对Al2O3薄膜的腐蚀,避免电子束曝光电荷积累造成的量子反常霍尔效应无法调控的问题,成功实现微纳加工后的量子反常霍尔效应。
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