MSD
MSD的相关文献在1993年到2022年内共计119篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、化学
等领域,其中期刊论文70篇、会议论文2篇、专利文献47篇;相关期刊63种,包括太原理工大学学报、科学技术与工程、中国科技纵横等;
相关会议2种,包括第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会、第十届全国疲劳与断裂学术会议等;MSD的相关文献由256位作者贡献,包括付刚、王先超、彭俊杰等。
MSD
-研究学者
- 付刚
- 王先超
- 彭俊杰
- 沈云付
- 金翊
- SHEN YunFu
- 于春阳
- 付春
- 吴广志
- 吴志娟
- 周广涛
- 周雪荣
- 夏秀玮
- 姜鑫
- 孙艳涛
- 张冕
- 张长青
- 曾志坚
- 朱保欣
- 李佳璇
- 李学广
- 李明波
- 李鑫
- 杨晓峰
- 林萌萌
- 柏春松
- 柴友荣
- 柴成燕
- 沈戎
- 王二希
- 王建国
- 王瑞
- 王生楠
- 练剑平
- 袁明
- 许力
- 赵佳
- 赵博
- 郑金花
- 郝勤顺
- 陆定红
- 陈志德
- 陈新风
- 韩发
- 韩波
- 马赑
- 高伟
- 高珊
- 魏甜甜
- 黄欣沂
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刘习生;
申洋
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摘要:
基于软弱土基坑二维平面预测的MSD分析方法和空间效应概念,将地下连续墙纵向变形弯曲应变能引入MSD方法,预测分析三维情况下黏性土基坑支护结构纵向变形规律.依托无锡某地铁工程,计算得到空间效应影响区域约8m,空间效应系数呈现端部小、中间大的趋势,表现在基坑地下连续墙对于土体自身强度的利用程度,靠近基坑拐角位置,土体自身强度利用率较低.
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HU Lei
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摘要:
随着被测量飞行物的飞行速度越来越快,对遥测跟踪测量装备的要求也越来越高,所传输的数据量越来越大,遥测数据率由也由2Mbps提高到10Mbps甚至更高.当遥测测量装备要求具有10Mbps码率遥测数据的接收解调能力,传输码率提高到10Mbps后,在弹载遥测发射机发射功率不变的条件下会产生近7dB的增益差问题,应用多符号检测技术(MSD)和Turbo乘积码(TPC)译码技术可以有效解决这一问题并大幅提高PCM-FM遥测系统性能.
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胡磊1
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摘要:
随着被测量飞行物的飞行速度越来越快,对遥测跟踪测量装备的要求也越来越高,所传输的数据量越来越大,遥测数据率由也由2Mbps提高到10Mbps甚至更高。当遥测测量装备要求具有10Mbps码率遥测数据的接收解调能力,传输码率提高到10Mbps后,在弹载遥测发射机发射功率不变的条件下会产生近7dB的增益差问题,应用多符号检测技术(MSD)和Turbo乘积码(TPC)译码技术可以有效解决这一问题并大幅提高PCM-FM遥测系统性能。
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Dennis C. Gitz III;
Jeffrey T. Baker;
Zhanguo Xin;
John E. Stout;
Robert J. Lascano
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摘要:
Multiseed (msd) mutant sorghum [Sorghum bicolor (L.) Moench] lines with greatly increased seed numbers were developed. It was originally thought that the msd trait could increase grain yield several times in comparison with the wild type from which the mutant was derived. However, in a small plot trial, msd seed yield decreased when compared to the parent line. Herein we report results that msd seed yield remained either unchanged or slightly increased in comparison to the parent line. We suggest that attempts to measure msd sorghum seed yield were complicated due to systematic errors associated with the post-harvest processing methods, including threshing and pneumatic winnowing equipment that was used for harvest. That is, seed recovery and seed loss from individual panicles were affected by the post-harvest processing. When evaluating sorghum grain yield of types with different seed sizes, threshing and seed cleaning harvesting methods should be optimized for each sorghum line.
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佘红英;
吴红
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摘要:
SMT全流程质量管控是一项系统工程,要获得稳定的产品质量,除了对设计、工艺、物料和生产进行系统考虑、系统设计和系统管控之外,还需要掌握SMT工艺要领、工程知识和控制要点.介绍了SMT各工序的管控特点,结合NADCAP AC7120审核要求,提出SMT生产线在执行基本的工艺要求外,还需着重关注的质量控制要求.
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冯薇薇
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摘要:
介绍了车载紧急呼叫最小数据集MSD的内容及特征,说明了承载车载紧急信息的传输技术,分析了车载紧急呼叫最小数据集MSD的传送流程,展望了新一代智能汽车的紧急呼叫数据传送技术.分析及建议有助于提升新一代智能汽车的车载紧急呼叫能力,促进道路交通安全.
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张飞;
中国科学院研究生院;
李艳秋
- 《第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会》
| 2005年
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摘要:
随着集成电路(IC)芯片制备中最小线宽的不断缩小和浸没式光刻技术的引入,像差对特征图形尺寸的影响规律需要进一步研究.在65nm分辨率节点处,分别采用传统和环形两种照明方式,讨论浸没式ArF光刻中杂散光、运动标准偏差(MSD)和光线偏振等因素作用下,像差对特征图形尺寸的影响.分析结果表明:杂散光、MSD和光线偏振等因素对像差引起线宽变化的影响明显,当杂散光量和MSD值增加或偏振方向和特征图形线条方向不平行时,像差引起线宽变化量增加.根据分析结果讨论了利用偏振光的特性降低像差对特征图形尺寸的影响程度的可行性.
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张飞;
中国科学院研究生院;
李艳秋
- 《第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会》
| 2005年
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摘要:
随着集成电路(IC)芯片制备中最小线宽的不断缩小和浸没式光刻技术的引入,像差对特征图形尺寸的影响规律需要进一步研究.在65nm分辨率节点处,分别采用传统和环形两种照明方式,讨论浸没式ArF光刻中杂散光、运动标准偏差(MSD)和光线偏振等因素作用下,像差对特征图形尺寸的影响.分析结果表明:杂散光、MSD和光线偏振等因素对像差引起线宽变化的影响明显,当杂散光量和MSD值增加或偏振方向和特征图形线条方向不平行时,像差引起线宽变化量增加.根据分析结果讨论了利用偏振光的特性降低像差对特征图形尺寸的影响程度的可行性.
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张飞;
中国科学院研究生院;
李艳秋
- 《第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会》
| 2005年
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摘要:
随着集成电路(IC)芯片制备中最小线宽的不断缩小和浸没式光刻技术的引入,像差对特征图形尺寸的影响规律需要进一步研究.在65nm分辨率节点处,分别采用传统和环形两种照明方式,讨论浸没式ArF光刻中杂散光、运动标准偏差(MSD)和光线偏振等因素作用下,像差对特征图形尺寸的影响.分析结果表明:杂散光、MSD和光线偏振等因素对像差引起线宽变化的影响明显,当杂散光量和MSD值增加或偏振方向和特征图形线条方向不平行时,像差引起线宽变化量增加.根据分析结果讨论了利用偏振光的特性降低像差对特征图形尺寸的影响程度的可行性.
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张飞;
中国科学院研究生院;
李艳秋
- 《第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会》
| 2005年
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摘要:
随着集成电路(IC)芯片制备中最小线宽的不断缩小和浸没式光刻技术的引入,像差对特征图形尺寸的影响规律需要进一步研究.在65nm分辨率节点处,分别采用传统和环形两种照明方式,讨论浸没式ArF光刻中杂散光、运动标准偏差(MSD)和光线偏振等因素作用下,像差对特征图形尺寸的影响.分析结果表明:杂散光、MSD和光线偏振等因素对像差引起线宽变化的影响明显,当杂散光量和MSD值增加或偏振方向和特征图形线条方向不平行时,像差引起线宽变化量增加.根据分析结果讨论了利用偏振光的特性降低像差对特征图形尺寸的影响程度的可行性.
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张飞;
中国科学院研究生院;
李艳秋
- 《第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会》
| 2005年
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摘要:
随着集成电路(IC)芯片制备中最小线宽的不断缩小和浸没式光刻技术的引入,像差对特征图形尺寸的影响规律需要进一步研究.在65nm分辨率节点处,分别采用传统和环形两种照明方式,讨论浸没式ArF光刻中杂散光、运动标准偏差(MSD)和光线偏振等因素作用下,像差对特征图形尺寸的影响.分析结果表明:杂散光、MSD和光线偏振等因素对像差引起线宽变化的影响明显,当杂散光量和MSD值增加或偏振方向和特征图形线条方向不平行时,像差引起线宽变化量增加.根据分析结果讨论了利用偏振光的特性降低像差对特征图形尺寸的影响程度的可行性.
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张飞;
中国科学院研究生院;
李艳秋
- 《第十三届全国电子束、离子束、光子束学术年会》
| 2005年
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摘要:
随着集成电路(IC)芯片制备中最小线宽的不断缩小和浸没式光刻技术的引入,像差对特征图形尺寸的影响规律需要进一步研究.在65nm分辨率节点处,分别采用传统和环形两种照明方式,讨论浸没式ArF光刻中杂散光、运动标准偏差(MSD)和光线偏振等因素作用下,像差对特征图形尺寸的影响.分析结果表明:杂散光、MSD和光线偏振等因素对像差引起线宽变化的影响明显,当杂散光量和MSD值增加或偏振方向和特征图形线条方向不平行时,像差引起线宽变化量增加.根据分析结果讨论了利用偏振光的特性降低像差对特征图形尺寸的影响程度的可行性.
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- 上海汽车工业(集团)总公司
- 联创汽车电子有限公司
- 公开公告日期:2021-04-30
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摘要:
本发明公开了一种MSD数据包位置获取方法,包括:符合eCall发起条件,发起MSD数据包组包,请求定位;若无法获取位置,则请求位置计算获得位置完成MSD数据包发出eCall,否则直接获取位置完成MSD数据包发出eCall;位置计算包括,查询所有接收到的外部V2X数据,解析所述V2X数据计算获得位置或直接采用外部终端V2X数据内位置,完成MSD数据包发出eCall。本发明还公开了一种eCALL呼叫方法,一种实现所述MSD组包位置获取方法中的步骤的计算机存储介质,以及一种eCALL系统。本发明能在本车无法执行定位时,能自外部终端获取位置信息完成MSD数据包组包发出eCall,能拟补安全漏洞,明显提高受伤人员得到及时救治的概率,从而降低因交通事故导致死亡的概率。
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