IC芯片
IC芯片的相关文献在1989年到2023年内共计1043篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、工业经济
等领域,其中期刊论文214篇、会议论文3篇、专利文献124971篇;相关期刊153种,包括电子元器件应用、电子与电脑、电子产品世界等;
相关会议3种,包括第九届全国遥感遥测遥控学术研讨会、中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会、华东三省一市第三届真空学术交流会等;IC芯片的相关文献由1211位作者贡献,包括慕蔚、郭小伟、李习周等。
IC芯片—发文量
专利文献>
论文:124971篇
占比:99.83%
总计:125188篇
IC芯片
-研究学者
- 慕蔚
- 郭小伟
- 李习周
- 朱文辉
- 陈友兵
- 宋越
- 徐和平
- 何文海
- 王永忠
- 小林英树
- 杉村诗朗
- 冯文斌
- 刘飞
- 吉良秀彦
- 常野达朗
- 林宜龙
- 王久滨
- 中川智克
- 久户濑智
- 井上太一
- 刘世洪
- 加藤达也
- 张博
- 森田将司
- 王勇
- 前田祯光
- 和田健
- 唐召来
- 小林弘
- 川合满好
- 张英乾
- 李小冬
- 楠本直人
- 白石一雅
- 石川直树
- 谷口修平
- 赵献华
- 陈冬兵
- 陈延林
- 马克
- 鹤目卓也
- 刘光复
- 刘志峰
- 刘金升
- 刘驰
- 姚春霞
- 季侠
- 宋守许
- 岳卫杰
- 庄庆波
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宋翔宇;
许威
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摘要:
随着集成电路(IC)特征尺寸的缩小,CMOS微电子器件发热功率密度急剧增加,相应热能在不同薄膜层内传输。为了助力IC芯片封装热管理及MEMS热学芯片的设计与优化,CMOS-MEMS薄膜热导率的测量尤为重要,然而现有技术很难在芯片实际工作中进行原位热导率测量。近期深圳大学许威助理教授联合香港科技大学LEE教授团队设计了一种巧妙的MEMS结构,提出了一种新的测量方案,可以有效复现芯片工作中薄膜热导率的测量。
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胡敏
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摘要:
共晶芯片焊接平台因具有高效、低热阻、低成本等优势,被广泛用于表面贴装半导体分立器件的芯片焊接。随着移动消费电子产品的大量使用,越来越多的IC芯片被放置到小型表面封装中。对于底部没有金属化的小型IC芯片,经比较证明共晶焊接工艺优于聚合物粘接剂粘接,将低噪声放大器IC芯片以共晶焊接的方式组装到SC88封装中,并通过可靠性测试,成功实现量产。
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袁钟柱;
万发雨
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摘要:
本文提出了一种符合IEC标准的横电磁波(TEM)小室,用于集成电路的电磁兼容测试.该TEM小室可在0~3 GHz内实现反射系数小于-12 dB,传输系数优于-2.5 dB.本文采用三维电磁仿真软件(Computer Simulation Technology,CST)对TEM小室的阻抗、S参数、场均匀性以及被测物(EUT)对场的影响进行仿真设计,加工实测并与商业产品进行了对比.最后,参考了IEC标准制作了电磁兼容测试板,并以TEM小室对集成电路(IC)芯片的辐射发射进行测量,分析测量结果有助于改善集成电路电磁兼容性.
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朱学超
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摘要:
分析了目前封装测试行业芯片包装与防护的基本要求,总结了行业芯片包装的现状及不足之处.从包装结构的优化入手,并基于此重新规划了包装工艺流程,以期实现芯片的自动化包装操作.提高芯片包装的效率,同时降低人工操作失误给芯片带来的潜在质量风险.
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朱学超
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摘要:
分析了目前封装测试行业芯片包装与防护的基本要求,总结了行业芯片包装的现状及不足之处。从包装结构的优化入手,并基于此重新规划了包装工艺流程,以期实现芯片的自动化包装操作。提高芯片包装的效率,同时降低人工操作失误给芯片带来的潜在质量风险。
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本刊(编译)
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摘要:
射频识别(RFID)是一种利用无线电波进行非接触式阅读以及在附加到产品上的RFID标签中写入信息的技术。由于能够提供远程通信、批量阅读和其他好处,因此RFID应该能够提高零售和物流工作的效率。但是,由于现有的集成电路(IC)芯片是采用基于高温和真空环境的复杂工艺制成,因而价格昂贵,导致传统的硅RFID标签尚未普及,而且还需要IC芯片的安装工艺。这一现状,推动了制造低成本ICs以及无需安装工艺的印刷半导体如有机半导体的研发进程。然而,仅20 cm^2/s的迁移率导致远不能应用超高频RFIDs,这是多年来一直面临的挑战。
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王葵
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摘要:
设计并开发了一款基于压力传感器的电梯安全间隙测量仪器.该仪器采用IC芯片对2个薄膜压力传感器的信号进行采集和处理,得到的测量结果直接显示在微型显示器上,实现电梯安全间隙的测量.该仪器的测量精度高,消除人工观察等带来的测量误差,克服了传统检测手段的不足,提高检测人员的工作效率,降低劳动强度.
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费庆宇
- 《中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会》
| 2002年
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摘要:
用信号寻迹法确定IC芯片的失效部位,通常要开封并通电驱动芯片.由于IC管脚多,测试向量多,驱动芯片的手续十分繁杂.对金属化层开路和短路等失效部位,用无源电压衬度象进行失效定位,有时可省去驱动芯片的麻烦,简化失效分析程序.
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费庆宇
- 《中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会》
| 2002年
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摘要:
用信号寻迹法确定IC芯片的失效部位,通常要开封并通电驱动芯片.由于IC管脚多,测试向量多,驱动芯片的手续十分繁杂.对金属化层开路和短路等失效部位,用无源电压衬度象进行失效定位,有时可省去驱动芯片的麻烦,简化失效分析程序.
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费庆宇
- 《中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会》
| 2002年
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摘要:
用信号寻迹法确定IC芯片的失效部位,通常要开封并通电驱动芯片.由于IC管脚多,测试向量多,驱动芯片的手续十分繁杂.对金属化层开路和短路等失效部位,用无源电压衬度象进行失效定位,有时可省去驱动芯片的麻烦,简化失效分析程序.
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费庆宇
- 《中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会》
| 2002年
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摘要:
用信号寻迹法确定IC芯片的失效部位,通常要开封并通电驱动芯片.由于IC管脚多,测试向量多,驱动芯片的手续十分繁杂.对金属化层开路和短路等失效部位,用无源电压衬度象进行失效定位,有时可省去驱动芯片的麻烦,简化失效分析程序.
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