ICCD

摘要： 亮度增益为微光像增强器的重要参数,影响微光夜视环境下以微光像增强器为核心的目标背景对比度测试结果精度。本文基于对比度测试原理,通过对不同亮度增益的ICCD进行目标背景对比度测试,分析得到亮度增益与目标背景对比度的变化关系及影响因素。测试结果表明:亮度增益分别为12000 cd/(m^(2)·lx)、8300 cd/(m^(2)·lx)、6000 cd/(m^(2)·lx)时,环境照度在[2×10^(-3),8×10^(-3)](lx)区间内,目标背景对比度受亮度增益影响较小。照度在区间外时,受亮度增益影响,目标背景对比度测试结果可能失真。本文研究结果为提高ICCD目标背景对比度测试精度提供数据支持。

摘要： 针对目前激光雷达三维距离像分辨率低的问题,使用成本低且有效的图像处理方法获得高分辨三维距离像.首先,利用多传感器系统的特点,将低分辨率Gm-APD激光雷达与高分辨率ICCD激光雷达相结合,获得配准后的低分辨距离像和高分辨强度像,然后,提出了一种改进的图像引导算法实现低分辨图像超分辨重构.该方法使用马尔科夫随机场模型,定义了全局能量函数,该函数将距离保真项和正则化项相结合,通过求解优化模型获得高分辨三维距离像.通过对仿真图像和激光雷达距离像的超分辨重构处理,以主观视觉效果和图像质量客观评价指标来验证此方法.实验结果表明,该方法提高了距离像的分辨率,且很好地保护了图像的边缘结构,在无参考图像质量评价指标上较双三次插值、引导滤波和TGV取得更优值.

摘要： 本文首先介绍了微光遥感技术的相关概念,其次分析了微光遥感成像技术的发展概况,最后对微光遥感探测器性能进行比较,得出了ICCD其具有一系列突出优点,如动态范围相对较大、噪声比较低、灵敏度高等优点。

摘要： ICCD(微光像增强CCD)应用领域十分广泛,这就使得关于ICCD的测试需求越来越多,ICCD的测试项目繁多,按照其测试原理大体分为以下四类:光电特性测试,光谱特性测试,几何特性测试:像质特性测试.传统的人工测试,操作复杂测试步骤烦琐,结果的计算量也比较大,还存在许多人为测量和人为评价环节,对测试结果加入了很多人为因素,进而造成结果的不准确,难以客观评价ICCD的光电性能,针对以上问题,利用C#语言与微软的Visual Studio开发平台设计实现了的ICCD视场综合特性测试平台,结果表明,该平台有效精确地完成了ICCD的相关测试,实现了微光器件测试测量与计算机控制技术的融合,有效地提高了测试人员的工作效率.

摘要： 微光夜视整机可以在夜间光照条件较差的情况下,对目标实施有效观察,而夜间观察目标对比度是整机作用距离影响因素中的重要指标.为满足微光夜视整机夜间观察理论分析及试验对目标对比度数据的迫切需求,基于三代微光像增强器具有与星光条件下自然光辐射光谱良好匹配的使用特性,搭建了基于三代微光ICCD的成像装置.并从微光成像系统的能量传递链及光电子成像系统的视觉特征方程分别推导环境光照度和目标-背景反射率比与对比度关系.在暗室和夜天光条件下开展了对比度试验,试验结果证明,当照度处于三代微光像增强器照度-亮度的线性相关照度区间[Es,Em]时,对比度与照度无关;对同一目标及背景采集图像,目标-背景反射率越接近1,对比度越小.

摘要： 从ICCD的基本结构出发,分析光子在ICCD中的倍增过程和每个过程引入的噪声,根据各噪声所服从的概率分布函数,得到各个噪声的理论表达式,进而对ICCD的信噪比模型进行了理论推导.

摘要： 基于微处理器并结合模拟延迟电路以及数字逻辑电路,设计了分辨率可达5ns、最小脉宽为65ns、频率高达1MHz、且通过上位机可以远程控制的选通脉冲源.用该脉冲源结合选通电源测试了阴极上镀有金属导电基底和没有金属导电基底的ICCD的选通快门时间.结果表明当镀有金属基底时,ICCD具有更短的开启时间.建立相应的等效电路模型和阴极开关过程满足的RC等效方程,定性分析得出阴极面电阻的减小是使得ICCD开启时间缩短的主要因素.

摘要： In order to accurately establish the low light level(LLL)image noise model,an automati-cally evaluated noise level function algorithm from the single LLL image is proposed.First of all,a homogeneous image region is extracted based on the Kendall coefficient test method,and a noise mo-del is established by analyzing ICCD imaging mechanism.Then the least squares method is used for parameter estimation.The LLL image is tested and highly accurate parameter values are obtained, w hich proves the feasibility of the algorithm.%为了精确地建立微光图像噪声模型,提出了一种从单幅微光图像中自动评估噪声水平函数的算法.该算法首先采用Kendall coefficient统计方法提取出微光图像均匀区域;然后,在分析微光ICCD成像机理基础上提出了微光ICCD噪声模型,并采用最小二乘方法进行了参数估计;最后,对实际微光图像进行了检测,获得了高精度的参数值,由此证明了该算法的可行性.

摘要： 在"强光一号"装置Z箍缩实验中,为了诊断等离子体早期状态,研制了一套测量箍缩阶段的可见-紫外光谱的光谱仪系统,主要测量线光谱和连续光谱的相对强度以及线谱展宽.系统主要由引光管道、光栅单色仪、脉冲选通式ICCD 相机、电子学系统和图像采集系统组成.文中介绍了系统的标定方法,并对系统的动态范围和光谱分辨率进行了标定.系统光谱分辨率优于3Ω,可测量光谱范围为200～1 200 nm,时间分辨率优于4 ns,时间关联精度优于1 ns,每幅图像记录光谱范围为38 nm.该系统在"强光一号"装置上得到了成功的应用,得到了Z箍缩早期等离子体发光光谱.

摘要： 在"强光一号"装置Z箍缩实验中,为了诊断等离子体早期状态,研制了一套测量箍缩阶段的可见-紫外光谱的光谱仪系统,主要测量线光谱和连续光谱的相对强度以及线谱展宽.系统主要由引光管道、光栅单色仪、脉冲选通式ICCD 相机、电子学系统和图像采集系统组成.文中介绍了系统的标定方法,并对系统的动态范围和光谱分辨率进行了标定.系统光谱分辨率优于3Ω,可测量光谱范围为200～1 200 nm,时间分辨率优于4 ns,时间关联精度优于1 ns,每幅图像记录光谱范围为38 nm.该系统在"强光一号"装置上得到了成功的应用,得到了Z箍缩早期等离子体发光光谱.

摘要： 在"强光一号"装置Z箍缩实验中,为了诊断等离子体早期状态,研制了一套测量箍缩阶段的可见-紫外光谱的光谱仪系统,主要测量线光谱和连续光谱的相对强度以及线谱展宽.系统主要由引光管道、光栅单色仪、脉冲选通式ICCD 相机、电子学系统和图像采集系统组成.文中介绍了系统的标定方法,并对系统的动态范围和光谱分辨率进行了标定.系统光谱分辨率优于3Ω,可测量光谱范围为200～1 200 nm,时间分辨率优于4 ns,时间关联精度优于1 ns,每幅图像记录光谱范围为38 nm.该系统在"强光一号"装置上得到了成功的应用,得到了Z箍缩早期等离子体发光光谱.

摘要： 在"强光一号"装置Z箍缩实验中,为了诊断等离子体早期状态,研制了一套测量箍缩阶段的可见-紫外光谱的光谱仪系统,主要测量线光谱和连续光谱的相对强度以及线谱展宽.系统主要由引光管道、光栅单色仪、脉冲选通式ICCD 相机、电子学系统和图像采集系统组成.文中介绍了系统的标定方法,并对系统的动态范围和光谱分辨率进行了标定.系统光谱分辨率优于3Ω,可测量光谱范围为200～1 200 nm,时间分辨率优于4 ns,时间关联精度优于1 ns,每幅图像记录光谱范围为38 nm.该系统在"强光一号"装置上得到了成功的应用,得到了Z箍缩早期等离子体发光光谱.

摘要： 简介作为摄相头感光器件的CCD的基本原理、Atmel公司生产的ATMEGA8单片机的主要特点，并利斥ATMEGA8单片机作为主控制芯片，设计并实现了一种通过调节带有像增强器功能的ICCD选通电源门宽和像增强器的外部增益电压，来控制摄相头采集图像亮度和质量的方案，并给出了详细的硬件设计电路和软件的流程图;经过实际测试取得了预期的效果，达到了较高的性能指标。

摘要： 简介作为摄相头感光器件的CCD的基本原理、Atmel公司生产的ATMEGA8单片机的主要特点，并利斥ATMEGA8单片机作为主控制芯片，设计并实现了一种通过调节带有像增强器功能的ICCD选通电源门宽和像增强器的外部增益电压，来控制摄相头采集图像亮度和质量的方案，并给出了详细的硬件设计电路和软件的流程图;经过实际测试取得了预期的效果，达到了较高的性能指标。

摘要： 简介作为摄相头感光器件的CCD的基本原理、Atmel公司生产的ATMEGA8单片机的主要特点，并利斥ATMEGA8单片机作为主控制芯片，设计并实现了一种通过调节带有像增强器功能的ICCD选通电源门宽和像增强器的外部增益电压，来控制摄相头采集图像亮度和质量的方案，并给出了详细的硬件设计电路和软件的流程图;经过实际测试取得了预期的效果，达到了较高的性能指标。

摘要： 简介作为摄相头感光器件的CCD的基本原理、Atmel公司生产的ATMEGA8单片机的主要特点，并利斥ATMEGA8单片机作为主控制芯片，设计并实现了一种通过调节带有像增强器功能的ICCD选通电源门宽和像增强器的外部增益电压，来控制摄相头采集图像亮度和质量的方案，并给出了详细的硬件设计电路和软件的流程图;经过实际测试取得了预期的效果，达到了较高的性能指标。

摘要： 充分考虑选通时间，建立了ICCD的数学模型，包括增益模型、MTF链模型和噪声模型。对ICCD在低照度条件下，不同选通时间的输出图像进行了仿真。为了验证仿真图像与实际成像结果的一致性，分别采用了与实验结果比对和三维噪声分析的方法。分析结果与微光ICCD成像系统实际性能相吻合。验证了本文所用模型的有效性。

摘要： 充分考虑选通时间，建立了ICCD的数学模型，包括增益模型、MTF链模型和噪声模型。对ICCD在低照度条件下，不同选通时间的输出图像进行了仿真。为了验证仿真图像与实际成像结果的一致性，分别采用了与实验结果比对和三维噪声分析的方法。分析结果与微光ICCD成像系统实际性能相吻合。验证了本文所用模型的有效性。

摘要： 本发明涉及一种光电信号同步超快激光与ICCD相机的系统及方法，使超快激光加工过程与ICCD相机电子快门曝光过程同步运行，实时准确捕捉超快激光与材料相互作用的瞬态过程。在调节激光加工过程与ICCD相机电子快门曝光先后顺序的同时，解决超快激光出光时间不稳定造成的ICCD相机电子快门曝光过程无法精确同步激光加工过程的问题。本发明在不改动原始激光束聚焦条件及不影响加工所需激光能量的基础上，将初始激光束分束成信号激光束及加工激光束，通过将信号激光转变为脉冲电信号及调节激光传播距离的方式，实现ICCD相机电子快门曝光与激光加工过程的时间同步，为分析超快激光与物质相互作用的演化过程提供有效的时间序列保障。

摘要： 本发明提出一种微光ICCD分辨力测量装置及测量方法，属于光学测量与计量领域。其特点是，用光源系统、分辨力靶、共轭透镜组、测量暗箱、视频图像采集系统、和计算机构建了分辨力测量装置，共轭透镜组对经光源系统照射的分辨力靶成像，并投射到被测微光ICCD上，被测微光ICCD视频输出线连接至视频图像采集系统，视频图像采集系统采集被测微光ICCD输出的分辨力靶图像并送入计算机，计算机用于显示视频图像采集系统传输的分辨力靶图像。本发明解决了微光ICCD分辨力测量问题，可推广至EMCCD分辨力测量等其它需要建立分辨力测量装置及研究分辨力测量方法的领域，具有广阔的应用前景。

摘要： 本发明提供了一种基于ICCD相机的成像方法和系统，方法包括处理器接收外部输入的图像采集指令，向光源设备和ICCD相机发送拍摄指令；光源设备根据拍摄指令和预设拍摄参数发出照射光；第一反射镜对照射光进行光路改变后照射至分光器；分光器对照射光进行分光处理，得到第一分路光和第二分路光；第二反射镜和第三反射镜分别对第一分路光和第二分路光进行光路改变处理，得到第一反射光和第二反射光；扩散器对第一反射光和第二反射光进行扩散处理，得到扩散光；中性滤光片对扩散光进行滤光处理，得到滤光照射光对目标场景进行照射；ICCD相机根据拍摄指令和预设拍摄参数对目标场景进行图像采集，得到目标场景的图像数据。

摘要： 本发明公开了一种基于ICCD矩阵的太赫兹时域波形测量平台及方法，所述平台包含太赫兹激励发生单元及太赫兹激励时域波形探测还原单元，其中：太赫兹激励发生单元主要由飞秒脉冲激光源、光学镜组、改性聚酰亚胺电光聚合物薄膜、高阻硅片、电光采样传感器构成，用于实现太赫兹脉冲的产生；太赫兹激励时域波形探测还原单元主要由飞秒激光脉冲源、光学斩波器、光学镜组、线性电动平移台、光学延迟线、ICCD矩阵、GPIB‑USB采集卡、锁相放大器以及计算机构成，用于实现太赫兹时域波形的探测以及反演还原。ICCD矩阵的引入在保证测量精度及稳定性的基础之上，可实现对太赫兹时域波形的高效、快速实时测量，而且具有较大的延伸创造空间，为太赫兹波在更多领域的应用提供了可能。

摘要： 本发明涉及一种光电信号同步超快激光与ICCD相机的系统及方法，使超快激光加工过程与ICCD相机电子快门曝光过程同步运行，实时准确捕捉超快激光与材料相互作用的瞬态过程。在调节激光加工过程与ICCD相机电子快门曝光先后顺序的同时，解决超快激光出光时间不稳定造成的ICCD相机电子快门曝光过程无法精确同步激光加工过程的问题。本发明在不改动原始激光束聚焦条件及不影响加工所需激光能量的基础上，将初始激光束分束成信号激光束及加工激光束，通过将信号激光转变为脉冲电信号及调节激光传播距离的方式，实现ICCD相机电子快门曝光与激光加工过程的时间同步，为分析超快激光与物质相互作用的演化过程提供有效的时间序列保障。

摘要： 本发明属于光谱测量领域，为提出激光诱导击穿光谱技术的分析过程，观测等离子体随时间的变化情况的新途径，本发明激光诱导击穿光谱ICCD时间分辨测量方法和系统，由激光器、聚焦镜、像增强电荷耦合器件ICCD、驱动电路、数据、时序控制部件、信号调理电路组成，其中，ICCD由光学镜头、像增强器、光纤面板、面阵CCD器件构成，镜头后焦面与像增强器阴极接收面重合，像增强器阳极荧光屏与光纤面板前表面耦合固定，光纤面板后表面与面阵CCD器件前表面耦合固定，激光器产生的激光经聚焦镜投射到被测物体并在其表面产生瞬间等离子体，数据、时序控制部件控制可调的延时时间。本发明主要应用于时间分辨测量场合。

摘要： 本发明公开了一种ICCD图像去噪方法，包括以下步骤：1)将ICCD图像通过方向梯度直方图方差划分为结构化图像块及非结构化图像块：2)在ICCD图像中采用局域与非局域级联的结构寻找模拟区域，并在模拟区域中通过块匹配算法寻找与非结构化图像块相匹配的非局域图像块，再根据通过预设的限制条件在模拟区域中寻找与非结构化图像块相匹配的局域图像块，再将非局域图像块与局域图像块采用联合滤波方法求取均值，得去噪后的非结构化图像块，该方法能够消除随机团块噪声，减少团块噪声对于图像识别的影响，同时增强ICCD图像的结构信息，修复噪声对图像造成的结构性缺失。达到去噪并修复图像的作用。

摘要： 一种基于ICCD成像的聚合物击穿发光光谱测量系统。包括同步触发电路及受同步触发电路控制的光学图像采集处理系统、动态压力测量系统和数据处理单元，光学图像采集处理系统包括以电弧发生器为中心的三路成像光路，三路成像光路同时接收外部发生器放电发出的光信号，每一路成像光路中的可调密度盘对接收的光信号进行动态衰减，将衰减后的信号经分光装置等性分为三路平行光束，三束不同波长的单色光和背景光并送至CCD的不同区域成像，从而获得由三路平行光束生成的一幅成像光路图像；本发明通过测量装置获取光信号能够绘制聚合物击穿瞬间的发光光谱，能够了解发光的来源从而分析聚合物的中载流子的变化规律，进一步了解击穿行为如何发生。

摘要： 本实用新型涉及展示架技术领域，公开了一种用于ICCD系统演示的展示架，其结构包括展板，所述展板的上端设置有第一螺纹孔，所述第一螺纹孔的内部分别设置有左丝杆和右丝杆，所述左丝杆位于所述展板上表面的左侧，所述右丝杆位于所述展板上表面的右侧，所述左丝杆和右丝杆分别通过螺纹与所述第一螺纹孔的内部相连接，所述左丝杆和右丝杆均通过第二螺纹孔连接有分割展板，所述左丝杆和右丝杆的上端设置有限位板。本实用新型实现了让展示架进行分层对不同ICCD系统进行演示，增加了展示架对ICCD系统演示时的范围，提高了ICCD系统演示时的对比效果。

摘要： 本实用新型属于光谱测量领域，为提出激光诱导击穿光谱技术的分析过程，观测等离子体随时间的变化情况的新途径，本实用新型激光诱导击穿光谱ICCD时间分辨测量装置，由激光器、聚焦镜、像增强电荷耦合器件ICCD、驱动电路、信号调理电路组成，其中，ICCD由光学镜头、像增强器、光纤面板、面阵CCD器件构成，镜头后焦面与像增强器阴极接收面重合，像增强器阳极荧光屏与光纤面板前表面耦合固定，光纤面板后表面与面阵CCD器件前表面耦合固定，激光器产生的激光经聚焦镜投射到被测物体并在其表面产生瞬间等离子体，驱动电路控制ICCD中的像增强器进行曝光。本实用新型主要应用于时间分辨测量场合。