电路测试

摘要： 引入EDA设计工具Multisim14,展开模拟电路仿真测试,以数字电路模60计数器为例,运用Multisim14所支持的VHDL语言条件设计电路,在Multisim设计工具中进行仿真对比,分析两种设计方法的差异化特点。通过仿真测试发现Multisim14设计模拟电路,证明Multisim14在数字电路设计分析中的强大功能。

摘要： 为了满足半导体激光器(LD)对电流源高稳定性、低噪声的性能要求,文中基于负反馈原理设计一种可调节低噪声恒流源电路。该电路使用带隙基准电压源AD780BN提供低噪声、低温漂的基准电压,配合多路复用器ADG1606的选择功能,由低噪声运放LT1677构成的负反馈恒流驱动电路通过JFET将电压转换成电流,经过JFET和BJT构成的调整网络输出稳定的电流,实现了稳定的多电流输出。实际电路测试结果表明:该恒流源电路在3.8~5.5 V的输入电压范围内,输出电流稳定度在0.007%~0.029%之间;在电流调控模块控制下,输出电流从20~350 mA按30 mA的步进可调;最大输出电流噪声为2.8μA,具有低噪声的性能。

摘要： 对电路信号进行测试、优化是增加电路控制能力、防止干扰的重点,将自动化测试技术引入到信号处理中,可有效提高测试工作效率。主要研究了处理电路的自动化方法,首先对测试系统的设计方案进行分析,其次详细说明了测试系统设计要点,包括对多普勒结构的引入、采集和判断信号类型,最后对供电模块设计、自动测试系统和高效打印技术进行了说明,以期能够帮助相关人员深刻了解信号处理电路技术,提升电路测试水平和效率。

摘要： 为了提升电路板测试效率,提出了一套基于FPGA的电路智能测试系统方案.系统具有故障排查、功能测试、程序在线升级、参数测试与远程管理等功能。硬件平台包含FPGA、MCU以及检测传感器等外围设备,同时利用以太网络进行上位机远程监测与控制,实现了系统的自动测试和远程智能管理,控制界面友好,便于实际操作。

摘要： 用于调试铁路室内电路的传统模拟盘存在携带不便、通用性差以及测试不完善等缺点.首先运用模块化思想,将室外信号设备设计成独立板卡,同时在板卡内加入故障模拟电路,使测试更加充分;然后通过I/O扩展技术,使各类独立板卡可扩展级联为不同车站拓扑,使系统具有通用性;最后引入上位机部分,以便调试更加便捷.测试结果表明,设计的铁路信号室内通用电路测试系统可通过分线柜连接室内系统,对铁路室内信号设备进行调试,并相较于传统模拟盘具有通用性强、测试全面以及便携的特点,具有一定的实用价值及现实意义.

摘要： 为解决复杂环境下电源设计繁杂的问题并更好地满足对直流电源的应用需求,提出一种直流可调稳压电源设计方案.本文从该电源的电路原理图出发,分别对电路结构中的变压器降压、单相桥式整流、大电容滤波、LM317稳压的基本原理加以阐述,并结合客观情况给出了电路元件的选择.同时使用软件Multisim进行仿真测试,并根据仿真结果进行了电源的实物搭建与研究.测试结果与常规直流稳压产品参数对比,其调压范围相对较小,输出电压稳定,且所用电路结构和元器件价格低,电源制作成本较低,满足各类小功率电路的供电需求,实现了可调式直流稳压电源的基本性能要求.

摘要： 本文研究对自动化测试技术在电路分析中的应用进行研究,并提出自动化测试技术在电路分析中的具有应用策略。

摘要： 我所承制的某一类型电路,测试过程相似,功能参数相近,为提高电路测试效率,有必要研制该类电路的通用自动测试平台。本文基于自动测试系统的设计思想和该类电路的测试要求,主要通过并联自动测试装置的设计来完成该类电路通用测试平台制作。我所承制的某一类系列电路传统测试方法是使用通用仪器检测设备手动完成,目前存在测试时间长、检测效率低、无法联测的问题,由于该产品每批次的数量多,目前测试设备不能满足研制和生产的需求。因此,需要制作专用的自动测试装置,来提高测试效率,以满足研制和生产的需求。

摘要： 介绍了带驱动接收功能的抗辐射加固接口电路的基本功能，详细说明了自动测试系统的建立和及辐照试验方案，充分验证了该款电路的辐射指标——抗总剂量:100k rad(Si)，抗中子：3×1013n/cm2,抗剂量率:1×1011rad(Si)/s。

摘要： 从器件工艺理论上分析门极部分对测试晶闸管关断时间影响的原因,搭建相关测试电路来进行对比试验.为晶闸管等器件的实际应用提供了参考,对正常测试晶闸管电路换向关断时间有借鉴作用.

摘要： 从器件工艺理论上分析门极部分对测试晶闸管关断时间影响的原因,搭建相关测试电路来进行对比试验.为晶闸管等器件的实际应用提供了参考,对正常测试晶闸管电路换向关断时间有借鉴作用.

摘要： 从器件工艺理论上分析门极部分对测试晶闸管关断时间影响的原因,搭建相关测试电路来进行对比试验.为晶闸管等器件的实际应用提供了参考,对正常测试晶闸管电路换向关断时间有借鉴作用.

摘要： 从器件工艺理论上分析门极部分对测试晶闸管关断时间影响的原因,搭建相关测试电路来进行对比试验.为晶闸管等器件的实际应用提供了参考,对正常测试晶闸管电路换向关断时间有借鉴作用.

摘要： 高压IGBT模块由绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)与反并联二极管构成.随着电力电子技术的发展以及电压等级的提高,对于高压IGBT模块的开关暂态过程的研究及建模越来越重要.根据高压IGBT与二极管的开关瞬态及稳态特性,采用机理推导、电气等效、曲线拟合等方法分别建立了相应的开关暂态模型并提出模型参数提取方法.模型在PSCAD/EMTDC电磁仿真平台下实现,具有计算速度快、参数易提取、物理概念清晰等特点.以CM450DXL-34SA型高压IGBT模块为例给出了模型参数值,搭建模块测试电路,通过对高压IGBT模块开通暂态、关断暂态的仿真结果与电力电子仿真软件Saber中通用模型仿真结果对比分析,修改相应型号参数后仿真与相关文献实验实测波形对比分析,验证了高压IGBT模块开关暂态模型和参数提取方法的正确性和通用性,为进一步模型应用于柔性直流输电系统仿真、电磁干扰及损耗分析、控制策略研究打下基础.

摘要： 高压IGBT模块由绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)与反并联二极管构成.随着电力电子技术的发展以及电压等级的提高,对于高压IGBT模块的开关暂态过程的研究及建模越来越重要.根据高压IGBT与二极管的开关瞬态及稳态特性,采用机理推导、电气等效、曲线拟合等方法分别建立了相应的开关暂态模型并提出模型参数提取方法.模型在PSCAD/EMTDC电磁仿真平台下实现,具有计算速度快、参数易提取、物理概念清晰等特点.以CM450DXL-34SA型高压IGBT模块为例给出了模型参数值,搭建模块测试电路,通过对高压IGBT模块开通暂态、关断暂态的仿真结果与电力电子仿真软件Saber中通用模型仿真结果对比分析,修改相应型号参数后仿真与相关文献实验实测波形对比分析,验证了高压IGBT模块开关暂态模型和参数提取方法的正确性和通用性,为进一步模型应用于柔性直流输电系统仿真、电磁干扰及损耗分析、控制策略研究打下基础.

摘要： 高压IGBT模块由绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)与反并联二极管构成.随着电力电子技术的发展以及电压等级的提高,对于高压IGBT模块的开关暂态过程的研究及建模越来越重要.根据高压IGBT与二极管的开关瞬态及稳态特性,采用机理推导、电气等效、曲线拟合等方法分别建立了相应的开关暂态模型并提出模型参数提取方法.模型在PSCAD/EMTDC电磁仿真平台下实现,具有计算速度快、参数易提取、物理概念清晰等特点.以CM450DXL-34SA型高压IGBT模块为例给出了模型参数值,搭建模块测试电路,通过对高压IGBT模块开通暂态、关断暂态的仿真结果与电力电子仿真软件Saber中通用模型仿真结果对比分析,修改相应型号参数后仿真与相关文献实验实测波形对比分析,验证了高压IGBT模块开关暂态模型和参数提取方法的正确性和通用性,为进一步模型应用于柔性直流输电系统仿真、电磁干扰及损耗分析、控制策略研究打下基础.

摘要： 高压IGBT模块由绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)与反并联二极管构成.随着电力电子技术的发展以及电压等级的提高,对于高压IGBT模块的开关暂态过程的研究及建模越来越重要.根据高压IGBT与二极管的开关瞬态及稳态特性,采用机理推导、电气等效、曲线拟合等方法分别建立了相应的开关暂态模型并提出模型参数提取方法.模型在PSCAD/EMTDC电磁仿真平台下实现,具有计算速度快、参数易提取、物理概念清晰等特点.以CM450DXL-34SA型高压IGBT模块为例给出了模型参数值,搭建模块测试电路,通过对高压IGBT模块开通暂态、关断暂态的仿真结果与电力电子仿真软件Saber中通用模型仿真结果对比分析,修改相应型号参数后仿真与相关文献实验实测波形对比分析,验证了高压IGBT模块开关暂态模型和参数提取方法的正确性和通用性,为进一步模型应用于柔性直流输电系统仿真、电磁干扰及损耗分析、控制策略研究打下基础.

摘要： 随机测试长久以来一直被认为是测试工作的基本方法之一,其简单和直接的特点被人们广为利用.在随机测试中,测试者无需预产生测试码,只需要随机生成和选取即可.但是,相较于确定性测试,随机测试的检测效率较低.优化距离随机测试法,旨在改进传统随机测试思想并提高随机测试效率.该方法的基本思想基于如下假设:控制和修改测试码之间的距离可以改进故障覆盖率和提高测试效率.大量实验表明优化距离随机测试对提高软硬件随机测试效率是非常有效的.在理论证明和实验的基础上,本文对测试码间的距离和被测故障覆盖率之间的关系作了分析和研究,并提出故障差异的新概念,证明了优化测试码间距离与提高测试效率之间关系假设的真实性和有效性.

摘要： 本发明涉及一种测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法，测试保护电路包括：第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压；及保护模块，与第一电连接端及第二电连接端连接，用于在感测引脚异常时将被测器件的电源电压反馈给测试机。上述测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法能避免测试机在感测引脚异常通过驱动线向被测器件输出过高电压，从而避免烧针。

摘要： 本发明涉及用于并行测试器(1)的定位装置、并行测试器(1)、以及用于测试印刷电路板的方法。本发明的一方面涉及精细调节定位装置，其中测试适配器(14)可以固定到保持装置的内保持件(28)，并且内保持件(28)可以相对于其他定位装置移动。作为轴承，仅提供一个或多个枢转接合件和/或一个或多个空气轴承和/或一个或多个磁轴承。

摘要： 本发明涉及一种测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法，测试保护电路包括：第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压；及保护模块，与第一电连接端及第二电连接端连接，用于在感测引脚异常时将被测器件的电源电压反馈给测试机。上述测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法能避免测试机在感测引脚异常通过驱动线向被测器件输出过高电压，从而避免烧针。

摘要： 本公开提供了一种电路板测试系统、电路板测试主机及电路板测试方法。电路板测试系统包括测试夹具、供电模块、测试控制模块以及测试仪器。其中，测试夹具用于固定待测试电路板，当所述测试夹具成功固定所述待测试电路板时，输出第一信号；供电模块用于对所述待测试电路板供电；所述测试控制模块在获取到所述第一信号时，控制所述供电模块对所述待测试电路板供电；测试仪器在所述测试控制模块的控制下，对所述待测试电路板测试。本公开提高了对待测试电路板测试的稳定性。

摘要： 本发明提供了一种电路板测试用控制器、电路板测试箱及电路板测试系统，电路板测试用控制器包括：壳体；控制面板，设置在壳体上，包括第一区域和第二区域，第一区域中设置有开机按钮，第二区域内设置有触摸显示屏，触摸显示屏在开机按钮被触发时，显示电路板测试界面；第一通信模块，设置在壳体上，连接至用于放置待测试电路板的测试治具，用于获取待测试电路板的测试结果；存储器，设置在壳体内，连接至第一通信模块，存储器用于存储待测试电路板的测试结果；供电模块，设置在所述壳体上，连接至所述触摸显示屏、所述第一通信模块及所述存储器。

摘要： 在扫描测试电路设计中，在时钟树T的每个最后级元件101f中，使由该最后级元件101f所驱动的多个触发器电路互相串联(102a互相串联、102b互相串联、102c互相串联…)，构成子扫描链。然后，使从时钟树T的时钟供给点S算起的相对级数差最小(即，级数差为一级)的子扫描链互相连接。在使子扫描链互相进一步连接的时候，按从时钟延迟大的触发器电路向时钟延迟小的触发器电路进行数据移入的顺序连接。因此，插入在移位寄存器的数据传输线中、用以保证扫描移位寄存器的移位工作中的保持时间的延迟元件的数量减少，能够控制功耗。

摘要： 本发明涉及用于平行测试器(1)的定位装置、平行测试器(1)、以及用于测试印刷电路板的方法。本发明的一方面涉及精细调节定位装置，其中测试适配器(14)可以固定到保持装置的内保持件(28)，并且内保持件(28)可以相对于其他定位装置移动。作为轴承，仅提供一个或多个枢转接合件和/或一个或多个空气轴承和/或一个或多个磁轴承。

摘要： 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。需要对被测试器件测试时，控制第一开关导通，控制被测试器件开启。此时电源的正极、第一开关、电感、测试端、电源的负极依次连接构成回路。电源给电感充电。电感的电流逐渐增大。当电感的电流增大到一定程度后，控制第一开关断开，并且关断被测试器件、导通第二开关。此时第二开关、电源的正极、电源的负极、二极管、电感的第一端、电感的第二端依次连接形成第二回路。电感中的电流可以依次通过第二开关、电源、二极管释放。电感中的电流还可以被电源回收。因此测试电路能够快速实现电感中的电流清零，便于快速进行下一次的测试，提高了测试效率。

摘要： 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。测试电路包括电源、二极管、电感、第一开关、第二开关和测试端。二极管的阴极与电源的正极连接。电感包括第一端和第二端。电感的第一端与二极管的阳极连接。第一开关的一端与电源的正极连接。第一开关的另一端与电感的第二端连接。第二开关的一端与二极管的阳极连接。第二开关的另一端与电源的负极连接。测试端的一端与电感的第二端连接。测试端的另一端与电源的负极连接。测试端用于插接功率二极管。电感中的电流可以在电感、二极管、电源和功率二极管形成回路中快速释放。电感中的电流能够快速降低到零。因此测试电路可以快速启动第二次测试，大大提高测试效率。

摘要： 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。测试电路包括电源、第一开关、第二开关、电感、二极管和测试端。所述第一开关和第二开关依次串联于所述电源的正极和负极之间。所述第一开关和所述第二开关依次串联于所述电源的正极和负极之间。所述电感包括第一端和第二端。所述电感的第一端连接于所述第一开关和所述第二开关之间。所述二极管的阴极连接于所述电源的正极。所述二极管的阳极连接于所述电感的第二端。所述测试端的一端与所述电感的第二端连接。所述测试端的另一端与所述电源的负极连接。所述测试端用于测试被测IGBT芯片。