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环氧塑封料

环氧塑封料的相关文献在1996年到2022年内共计132篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、化学工业、电工技术 等领域,其中期刊论文72篇、会议论文6篇、专利文献677644篇;相关期刊34种,包括企业技术开发(下半月)、科技风、材料导报等; 相关会议6种,包括2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会、第十一届全国环氧树脂应用技术学术交流会、第三届高新技术用石英制品及相关材料技术与市场研讨会等;环氧塑封料的相关文献由194位作者贡献,包括李刚、王善学、卢绪奎等。

环氧塑封料—发文量

期刊论文>

论文:72 占比:0.01%

会议论文>

论文:6 占比:0.00%

专利文献>

论文:677644 占比:99.99%

总计:677722篇

环氧塑封料—发文趋势图

环氧塑封料

-研究学者

  • 李刚
  • 王善学
  • 卢绪奎
  • 李海亮
  • 刘金刚
  • 周洪涛
  • 严银华
  • 封其立
  • 黄文迎
  • 张文金
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利文献

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    • 刘云婷; 龚国虎; 张玉兴; 何志刚; 艾凯旋
    • 摘要: 对某塑封器件进行破坏性物理分析(DPA),发现芯片表面存在玻璃钝化层裂纹和金属化层划伤的缺陷。对缺陷部位进行扫描电子显微镜(SEM)检查和能谱(EDS)分析,通过形貌和成分判断其形成原因为开封后的超声波清洗过程中,超声波振荡导致环氧塑封料中的二氧化硅填充颗粒碰撞挤压芯片表面,从而产生裂纹。最后,进行了相关的验证试验。研究结论对塑封器件的开封方法提出了改进措施,对塑封器件的DPA检测及失效分析(FA)有一定借鉴意义。
    • 侍二增; 崔亮; 李云芝; 蒋小娟
    • 摘要: 介绍了环氧塑封料的组分和硅微粉对环氧塑封料性能的影响,研究了不同类型硅微粉及其不同配比对环氧塑封料的胶化时间、流动长度、DMA高温模量和冲击强度的影响。结果表明,在相同填料含量条件下,球形硅微粉的使用量增加,环氧塑封料具有较好的流动长度,随着结晶硅微粉加入量的增加,塑封料的熔融黏度随之增加,流动长度急剧下降,对集成电路的金引线的影响较为明显,严重影响了集成电路的可靠性;但含球形硅微粉的环氧塑封料具有较低的热膨胀系数、良好的流动性能和较高的冲击强度。
    • 王璐; 常白雪; 岳艺宇; 吴宇林; 吴昊; 陈淑静; 刘金刚
    • 摘要: 绿色阻燃是集成电路芯片封装用环氧塑封料(EMC)的基本性能需求之一。传统的含溴环氧树脂、酚醛固化剂以及阻燃剂等由于受到欧盟《关于在电子电气设备中限制使用某些有害物质指令》的限制而无法应用于EMC制造中。尝试采用环境友好型含溴树脂——溴化聚(苯乙烯-丁二烯-苯乙烯)(Poly FR■)作为阻燃剂,研究了其在EMC中的阻燃行为。研究结果显示,当Poly FR■阻燃剂在EMC中的质量分数达到0.6%时,EMC的阻燃级别达到UL94 V0级。同时,在该添加量下,Poly FR■的引入未对EMC的螺旋流动长度与胶化时间,以及EMC固化物的热性能、粘接性能和力学性能产生不利影响。
    • 王璐; 常白雪; 岳艺宇; 吴宇林; 吴昊; 陈淑静; 刘金刚
    • 摘要: 环氧塑封料(EMC)是集成电路(IC)芯片封装的关键材料之一,而固化促进剂又是影响EMC在IC封装应用中的可靠性的重要成分之一。综述了近年来国内外EMC用热潜伏型固化促进剂(TLC)在基础与应用领域中的研究进展。从IC封装用EMC的发展趋势、EMC的发展对TLC的性能需求以及当前IC封装应用中的主流EMC相关TLC材料的研究现状等几个方面进行了阐述。重点阐述了有机磷系络合型本征型TLC的研究与发展状况,对先进EMC用TLC组分的未来发展趋势进行了展望。
    • 曹二平; 蔡晓东; 牟海燕
    • 摘要: 以多芳型环氧树脂为基体树脂,多芳型酚醛树脂为固化剂,研究了不同规格的色素炭黑对环氧塑封料性能的影响。通过凝胶化时间、螺旋流动长度、邵氏热硬度、体积电阻率、离子电导率和激光打标清晰度等对其进行表征。结果表明,适当降低炭黑吸油值,对环氧塑封料的理化性能影响较小,同时有利于提高环氧塑封料的电绝缘性能和激光打标清晰度。当用原生粒径为21 nm、炭黑吸油值为65 mL/100 g的JY 2021炭黑时,环氧塑封料的凝胶时间为37 s,螺旋流动长度为150 cm,邵氏热硬度为72,体积电阻率为14.7×10^(15)Ω·cm,此时离子电导率曲线最低,黑度及激光打标清晰度综合性能最好。
    • 王帅; 乔梁; 郑精武; 蔡伟; 应耀; 余靓; 李涓; 李旺昌; 车声雷
    • 摘要: 采用熔融挤出和热压成型方法制备了添加巴西棕榈蜡的铁硅铬/环氧树脂塑封料,用扫描电镜(SEM)、差示扫描量热仪(DSC)、热重分析仪、LCR测试仪和交流磁性自动测量仪研究了巴西棕榈蜡对铁硅铬/环氧树脂塑封料密度、显微结构、磁导率、磁损耗的影响规律。结果表明,巴西棕榈蜡会以小液滴(尺寸小于5μm)形式弥散分布于固化的环氧树脂间,二者有着清晰的两相边界。由于巴西棕榈蜡的润滑作用和弥散分布,对样品磁性能有着复杂影响,当棕榈蜡的含量相同时,塑封料密度和磁导率随铁硅铬磁粉含量的增加而增高,磁损耗下降;当磁粉含量相同(90 wt%)、棕榈蜡含量从0增加1.14%时,塑封料密度、磁导率和磁损耗亦有提高。
    • 王殿年; 李泽亮; 郭本东; 段嘉伟
    • 摘要: 第三代半导体器件以其在高温、高压、高频条件下稳定运行的特点深受市场青睐。环氧塑封料(EMC)对器件的可靠性起着至关重要的作用。通过多种类型树脂的调配和不同离子捕捉剂的添加,优化制配出了1种高性能的环氧塑封料,该环氧塑封料的玻璃化转变温度(T_(g))高达190°C,对金属银的密着力高达73.5 N/cm^(2),其阻燃级别达到了UL94 V-0级。通过模拟封装验证了环氧塑封料的可靠性,结果表明,实验室模拟的封装样品能达到吸湿敏感度等级一级(MSL1)。该样品经过封装厂的多方面验证,在1700 V的Si C半导体场效应晶体管(MOSFET)上表现出良好的可靠性,通过了电性能可靠性、环境可靠性、使用可靠性等一系列可靠性考核。这款高可靠性环氧塑封料有望应用于耐高温、耐高压的第三代半导体器件上。
    • 李呈龙; 钟诚; 刘永超; 郭蕊; 鲁济豹; 孙蓉
    • 摘要: 随着电子封装行业的迅猛发展,业界对封装结构可靠性的要求也越来越严格.目前大多数人将泊松比视为定值,这将在一定程度上影响可靠性评估.为了进一步提高可靠性,适当考虑材料泊松比对封装结构的影响具有重要的工程实践意义.该文利用有限元分析法,通过设计芯片仿真和板级封装仿真,分别探究了环氧塑封料泊松比对芯片翘曲、芯片界面应力以及板级封装焊点寿命的影响.通过分析可知:环氧塑封料泊松比可变对封装结构的翘曲具有较大的影响,而且有可能造成芯片界面分层、芯片达到应力极限而损坏,此外也需要适当考虑泊松比对焊点寿命的影响.随着芯片不断向着大尺寸方向发展,研究材料泊松比将具有更为重要的意义.
    • 潘旭麒; 李进; 袁健; 程琪
    • 摘要: 随着聚乙烯蜡(PE蜡)在环氧塑封料(EMC)中的广泛应用,其在高温环境下氧化而导致的模具离型性变差的问题也变得日益突出.通过从抑制PE蜡高温氧化入手,研究抗氧化剂的加入对模具离型性及EMC产品性能的影响.结果表明,在EMC材料中加入AO-60或AO-412S这两种抗氧化剂,不但不会对材料本身性能产生严重影响,而且还能有效改善模具久置后离型性降低的问题.随着抗氧化剂用量的增加,对于模具离型性的改善先提升后基本保持不变,添加量在5phr时即能取得不错的效果.
    • 潘旭麒; 李进; 袁健
    • 摘要: 环氧塑封料(Epoxy Molding Compound,EMC)中的气泡往往会带来各种缺陷,从而降低产品合格率.针对3种不同类型的脱气剂进行研究,解释脱气剂脱气机理,确定3种脱气剂的脱气效果及其对环氧塑封料性能的影响.最终结果表明改性聚硅氧烷型脱气剂更适用于EMC体系,加入后能有效减少样条内部气泡,提高材料的耐冲击性能,有效改善MSL-3后的分层情况,从而提高产品的可靠性.
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