材料缺陷

摘要： 为揭示材料缺陷(包括局部大孔、孔壁缺失和波纹孔壁)在泡沫铝准静态压缩过程中的作用机理,研究材料缺陷对泡沫铝屈服应力和平台应力(10%~30%压缩应变区间的平均应力)的影响,基于二维随机Voronoi模型建立含缺陷泡沫铝的二维有限元模型,采用非线性有限元法模拟泡沫铝准静态压缩过程,通过将模拟结果与泡沫铝准静态压缩试验结果相对比,验证该数值方法的可靠性。研究结果表明:材料缺陷导致泡沫铝屈服应力和平台应力减小,局部大孔和孔壁缺失缺陷造成的应力降幅较大,波纹孔壁缺陷造成的应力降幅较小;材料缺陷造成的应力降幅与泡沫铝孔隙率有关,局部大孔和孔壁缺失缺陷造成的应力降幅受孔隙率的影响较大。材料缺陷是影响泡沫铝准静态压缩力学性能的重要因素,由其造成的泡沫铝屈服应力和平台应力的降幅受孔隙率的影响,在含泡沫铝材料的结构设计中应予以关注。

摘要： 编号:2021188获奖等级:壹等完成单位:上海梅山钢铁股份有限公司、苏州大学、山东钢铁股份有限公司、宝山钢铁股份有限公司、上海永烨冶金科技发展有限公司完成人:王德永、邓丽琴、王中学、屈天鹏、陈兆平、张佩、张才贵、殷胜、田俊、左康林、戈文英、郑桂芸、吴德润、周桂海、谷春晓项目简介:本项目属炼钢技术领域。夹杂物是影响钢质量的核心要素,几乎所有钢铁材料缺陷都与夹杂物有着密切的关系。夹杂物控制技术已成为炼钢领域发展的重要方向,也是衡量一个国家洁净钢制造水平的重要标志之一。

摘要： 某工厂在进行重物吊装作业时,吊环螺钉发生了断裂,文中通过对断口宏观样貌分析、金相分析、化学成分分析、碳化层硬度测试,并结合断裂发生时的工况及受力状态,对断裂的原因进行了分析,结果表明该吊环螺钉的断裂属于疲劳断裂.同时,吊环螺钉的加工缺陷,如螺钉根部粗糙度及加工痕迹,以及螺钉材料中的非金属夹杂、螺纹处脱碳等因素,也加剧了断裂起始点的应力集中,使得裂纹更容易生成并拓展,最终导致断裂.

摘要： 复合材料在航空航天领域广泛应用,激光超声检测技术作为一种新兴无损检测方式,在复合材料检测方面的优势逐渐显著.为产品质量和新材料等的无损评估提供了新的精确检测技术.本文对激光超声检测应用特点和技术原理进行了分析,借助comsol有限软件分析模拟激光激发产生的表面波在材料中的传播特点及其与复合材料表面缺陷的互相作用过程.

摘要： 文章主要阐述了建筑材料缺陷无损检测方法的设计,首先通过对建筑材料施加敲击力以采集材料音频信号;利用频域曲线偏移情况来判断材料缺陷无损;根据频域密度变化来确定材料缺陷中心和边缘的位置深度;计算出缺陷结构特征值、绘制共振曲线,以获取缺陷的质量刚度和长度、宽度等特征.通过实验论证分析表明了该检测方法相比传统方法能够缩短材料缺陷特征的检测时间.

摘要： 据报道,风电齿轮箱轴承的过早失效主要由白蚀裂纹(WEC)引起,本研究将继续揭示其根本原因。白蚀区(WEA)萌生于非金属夹杂物,蝶状组织的形成与WEC有关。过早失效最常见的模式由WEC引起片状材料从表面脱离(白色组织剥落(WSF))而造成。损伤可能萌生于轴承滚道的表面或次表面。表面萌生假说认为裂纹可能由表面缺陷引起,并由于载荷条件而恶化。另一方面,位于次表面的材料缺陷(如非金属夹杂物)也可能引发损伤。研究人员还提出过其他的损伤萌生假说,包括氢的影响、塑性变形和被忽略的载荷(如击穿润滑膜的冲击载荷)等。此外,近期的一项研究强调了材料缺陷(非金属夹杂物)与拉伸应力(由轴承座波纹度产生)的结合作用对次表面轴向开裂的萌生与WEC形成的影响。然而目前尚未对损伤(如周围有WEA的WEC)萌生及其根本原因(即瞬态操作事件中出现的异常载荷)做出明确解释。

摘要： 两组不同原始状态的试块在不同公司进行热处理,通过对材料缺陷、金相组织及力学性能的检测,进而得出4130阀体材料在锻造成型及热处理的过程中,对其质量产生影响的因素。结果表明:4130阀体材料锻造成型后,材料的性能可以在不改变塑性的同时其抗拉强度及屈服强度均有所提高;热处理设备、淬火液质量以及人工因素均会对热处理质量产生影响。

摘要： 随着计算机和计算技术的迅速发展,建筑设计和建筑技术越来越受到影响.由于社会进步,数字技术可用于城市规划、建筑设计和建筑施工.计算机技术可以将建筑物的建设提高到一个非常高的水平,特别是对于建筑材料缺陷检测和建筑物结构安全检测.本文介绍了一种基于计算机识别技术测试建筑物缺陷的方法.在数字技术的基础上,地面穿透雷达技术和冲击回波扫描仪技术对建筑面积的使用呈指数增长.探地雷达技术可以确定钢筋的位置,评估古建筑钢筋混凝土中钢筋的结构强度和稳定性以及验证钢筋直径.冲击回波扫描仪方法评估建筑结构完整性的技术,利用生成的压力(声音)波来发现变化的界面,包括内部缺陷或空虚的地方.研究结果表明:通过探地雷达和冲击回波,测量了古建筑物的一系列评估参数,如加固位置、保护层厚度、空置位置、不密集的地方以及裂缝的位置、深度和范围等缺陷;同时两种方法通过高度可视化的影像,为古建筑结构安全和建筑材料缺陷检测提供了可靠的依据.

摘要： 准单晶是外观和电性能均类似单晶的多晶硅片.由于其转换效率高于普通多晶,而且光致衰减效应与比单晶弱很多,成本也具有一定的优势,是一种很有前景的电池原材料.准单晶硅片的大规模应用还存在一定问题,比如外观类似的准单晶电池效率波动却很大.本文针对这一问题,选取碱制绒后不同外观类型的准单晶硅片制备太阳电池,对电池的电致发光,光诱导电流和扩散长度进行研究,并对比这几种材料制备电池的电性能参数.最终结果发现,造成准单晶太阳电池性能波动的主要因素是材料中缺陷含量不同,缺陷含量对电池的开路电压和短路电流造成严重影响,使电池效率出现很大的波动,通过降低材料中的缺陷,可以使电池效率提高约1%.

摘要： 本文选取增韧树脂基碳纤维复合材料结构为研究对象，设计并制造了含有预埋分层、夹杂、孔隙缺陷的复合材料层合板典型试验件，采用超声、射线、声发射等无损检测的方法对复合材料缺陷进行检测，并对结果进行了分析，研究结果可为飞机复合材料结构的设计和制造提供依据。

摘要： 高压气瓶在国防和工业生产等各领域都有着广泛的应用,其安全运行与国防安全和经济社会发展息息相关.常用的气瓶无损检测方法有:射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和声发射检测等.使用中的高压气瓶,难免会出现各种裂纹和缺陷,声发射检测方法用于高压气瓶缺陷的无损检测是确保高压气瓶安全使用的有效方法.

摘要： 高压气瓶在国防和工业生产等各领域都有着广泛的应用,其安全运行与国防安全和经济社会发展息息相关.常用的气瓶无损检测方法有:射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和声发射检测等.使用中的高压气瓶,难免会出现各种裂纹和缺陷,声发射检测方法用于高压气瓶缺陷的无损检测是确保高压气瓶安全使用的有效方法.

摘要： 高压气瓶在国防和工业生产等各领域都有着广泛的应用,其安全运行与国防安全和经济社会发展息息相关.常用的气瓶无损检测方法有:射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和声发射检测等.使用中的高压气瓶,难免会出现各种裂纹和缺陷,声发射检测方法用于高压气瓶缺陷的无损检测是确保高压气瓶安全使用的有效方法.

摘要： 高压气瓶在国防和工业生产等各领域都有着广泛的应用,其安全运行与国防安全和经济社会发展息息相关.常用的气瓶无损检测方法有:射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和声发射检测等.使用中的高压气瓶,难免会出现各种裂纹和缺陷,声发射检测方法用于高压气瓶缺陷的无损检测是确保高压气瓶安全使用的有效方法.

摘要： 依托核探测与核电子学国家重点实验室的学科交叉应用平台,中国科学技术大学粒子束交叉应用实验室建造了一系列国内一流的高计数率、高分辨率的正电子湮没谱学测试装置,包括:数字化正电子寿命谱仪、数字化双多普勒展宽谱仪、数字化寿命-动量关联谱仪、二维寿命谱、慢正电子束谱仪、脉冲慢正电子谱仪等.中国科大正电子平台以核物理和核技术方法应用为基础,利用正电子探针对固体物理和材料科学中与微结构相关的电荷、轨道、晶格等前沿科学问题进行研究.这些谱仪同时对国内科研单位开放,每年为二十多个高校和研究机构提供科研测试服务.

摘要： 依托核探测与核电子学国家重点实验室的学科交叉应用平台,中国科学技术大学粒子束交叉应用实验室建造了一系列国内一流的高计数率、高分辨率的正电子湮没谱学测试装置,包括:数字化正电子寿命谱仪、数字化双多普勒展宽谱仪、数字化寿命-动量关联谱仪、二维寿命谱、慢正电子束谱仪、脉冲慢正电子谱仪等.中国科大正电子平台以核物理和核技术方法应用为基础,利用正电子探针对固体物理和材料科学中与微结构相关的电荷、轨道、晶格等前沿科学问题进行研究.这些谱仪同时对国内科研单位开放,每年为二十多个高校和研究机构提供科研测试服务.

摘要： 依托核探测与核电子学国家重点实验室的学科交叉应用平台,中国科学技术大学粒子束交叉应用实验室建造了一系列国内一流的高计数率、高分辨率的正电子湮没谱学测试装置,包括:数字化正电子寿命谱仪、数字化双多普勒展宽谱仪、数字化寿命-动量关联谱仪、二维寿命谱、慢正电子束谱仪、脉冲慢正电子谱仪等.中国科大正电子平台以核物理和核技术方法应用为基础,利用正电子探针对固体物理和材料科学中与微结构相关的电荷、轨道、晶格等前沿科学问题进行研究.这些谱仪同时对国内科研单位开放,每年为二十多个高校和研究机构提供科研测试服务.

摘要： 本发明公开了黑色氧缺陷氧化铋和其制备方法：(1)取Bi2O3放入刚玉舟中，取铝粉放入另一刚玉舟中；(2)将两个刚玉舟放入双温区管式炉中，抽真空通入惰性气体保护；(3)管式炉放有Bi2O3的一侧由25～30°C经过120～150min升温至400～500°C，放有Al粉的一侧则由25～30°C经过120～150min升温至600～800°C；实验完毕即得。还公开了一种稀土金属掺杂的氧缺陷氧化铋光催化材料和其制备方法：(1)配制稀土金属化合物水溶液，将Bi2O3‑x加入稀土金属化合物水溶液中；(2)迅速搅拌、浸渍，多次重复搅拌、浸渍的步骤，总用时90～210min；(3)干燥；(4)煅烧。

摘要： 本发明公开了一种氧空位缺陷的SnO2纳米材料，及其制备、使用方法，本发明采用Sn2+为锡源，通过低温下的水热过程将其部分氧化为Sn4+，在SnO2晶格中引入氧空位缺陷。本发明获得的氧空位缺陷的SnO2在应用于吸附和光催化时展现出良好的性能，因氧空位的存在使其具有更宽的光响应范围、更强的光生电子和空穴分离效率、更多的表面吸附和氧化还原反应活性位点，可在环境修复方面发挥作用，对甲基橙的吸附效率为43.4％，模拟太阳光照6min对甲基橙的降解效率高达98.0％，对Cr(VI)的吸附效率为78.0％，模拟太阳光照4min对Cr(VI)的还原效率高达98.3％。本发明的氧空位缺陷的SnO2纳米材料是一种集优异的吸附和光催化活性于一体的光催化剂，其具有优异的吸附和光催化性能，能够应用于多个场景。

摘要： 本发明公开了一种材料内缺陷检测装置和其缺陷检测方法，属于电磁无损检测技术领域。该材料内缺陷检测装置包括：外加磁场激励模块、信号检测模块、运动控制模块、数据采集模块、上位机、底板、支架，所述外加磁场激励模块设置于底板上，所述底板的两侧均设有支架，所述支架与信号检测模块连接，所述信号检测模块位于外加磁场激励模块的上方，所述运动控制模块分别与上位机和信号检测模块连接，所述数据采集模块分别与信号检测模块和上位机连接。本发明的缺陷检测装置及缺陷检测方法扩大了材料内部检测的深度和范围，提高了检测精度和效率。

摘要： 本发明公开了黑色氧缺陷氧化铋和其制备方法：(1)取Bi

摘要： 本发明公开了一种材料缺陷检测设备以及材料缺陷检测方法，包括：平面阵列传感器、控制电路和结果输出模块，其中：平面阵列传感器，包括：多个检测电极、端部屏蔽电极、极间屏蔽电极、传感器基板、信号线和基板背面屏蔽层，其中：控制电路与多个检测电极相连，用于控制对多个检测电极的电压激励；多个检测电极以阵列方式排列在传感器基板的上方，传感器基板的背面覆盖有基板背面屏蔽层，以及分布有信号线；信号线与多个检测电极相连，且与结果输出模块相连，用于将检测信号传输给结果输出模块；结果输出模块用于根据检测信号输出对应的检测结果。采用本发明方案，实现了对材料内部的无损检测。

摘要： 一种考虑缺陷尺寸效应的复合材料缺陷容限性能表征方法，该方法有3个步骤：步骤一、建立考虑缺陷尺寸效应的疲劳剩余强度曲面模型；步骤二、确定疲劳剩余强度曲面模型参数；步骤三、建立考虑缺陷尺寸效应的疲劳剩余强度概率模型。本发明简单实用，可用于定量表征含有不同缺陷尺寸的复合材料缺陷容限性能，为复合材料结构剩余寿命评估提供技术支持，具有重要的工程应用价值和学术意义。

摘要： 提供了一种可以容易地估计材料缺陷的形状信息的材料缺陷检测装置、材料缺陷检测系统、材料缺陷检测方法和程序。一种材料缺陷检测装置，用于利用由磁传感器阵列测量的预定区域中的磁场分布来检测金属设备的预定区域中的材料缺陷，该材料缺陷检测装置设置有用于基于由磁传感器阵列测量的磁场分布计算预定区域中的磁偶极子的密度分布的磁偶极密度分布计算器，以及用于基于磁偶极子的密度分布计算预定区域中的材料缺陷的深度分布的深度分布计算器。

摘要： 本发明公开了一种材料缺陷检测设备以及材料缺陷检测方法，包括：平面阵列传感器、控制电路和结果输出模块，其中：平面阵列传感器，包括：多个检测电极、端部屏蔽电极、极间屏蔽电极、传感器基板、信号线和基板背面屏蔽层，其中：控制电路与多个检测电极相连，用于控制对多个检测电极的电压激励；多个检测电极以阵列方式排列在传感器基板的上方，传感器基板的背面覆盖有基板背面屏蔽层，以及分布有信号线；信号线与多个检测电极相连，且与结果输出模块相连，用于将检测信号传输给结果输出模块；结果输出模块用于根据检测信号输出对应的检测结果。采用本发明方案，实现了对材料内部的无损检测。

摘要： 本发明公开了一种模切材料缺陷信息生成方法、缺陷检校方法及系统。模切材料缺陷信息生成方法包括：以第一视角、第二视角以及第三视角分别获取指定场景下的第一视角图像、第二视角图像、第三视角图像，所述指定场景至少包括：切刀、模切材料目标物以及承载所述模切材料目标物的承载机构；所述第一视角图像至少包括：模切后对模切材料目标物缺陷检测的第一检测图像；所述第二视角图像至少包括：模切后对模切材料目标物缺陷检测的第二检测图像；所述第三视角图像至少包括：模切后对模切材料目标物缺陷检测的第三检测图像；根据所述第一检测图像、第二检测图像以及所述第三检测图像，分析所述模切材料目标物是否存在缺陷特征，生成所述缺陷信息。

摘要： 本实用新型公开了材料缺陷检测投影光学系统、卷材和片材的缺陷检测装置，所述材料缺陷检测投影光学系统至少包括：光源组件，包括至少一个光源，光源位于待测物的一侧，用于向待测物投射光线；背景组件，包括一个背景板，背景板位于待测物的另一侧且与待测物平行放置，背景板朝向待测物的一面涂覆有漫反射层，光源投射的光线透过待测物使待测物成像在背景板上；相机组件，包括至少一个工业相机，工业相机的镜头指向背景板上光源投射光线与待测物的交汇区域，用于拍摄待测物在背景板上的成像。本实用新型使得检测能够更加完善和全面。