掉电保护
掉电保护的相关文献在1988年到2023年内共计668篇,主要集中在自动化技术、计算机技术、电工技术、机械、仪表工业
等领域,其中期刊论文151篇、会议论文6篇、专利文献373866篇;相关期刊114种,包括机电工程技术、自动化仪表、电源技术等;
相关会议6种,包括全国(第八届)自动化应用技术学术交流会、2003第十届全国可靠性物理学术讨论会、中国机械工程学会制造业自动化新技术发展学术交流会等;掉电保护的相关文献由1245位作者贡献,包括张博、于华章、李彤欣等。
掉电保护—发文量
专利文献>
论文:373866篇
占比:99.96%
总计:374023篇
掉电保护
-研究学者
- 张博
- 于华章
- 李彤欣
- 洪杰
- 王林凯
- 胡洪
- 胡雪原
- 蒋建兵
- 陆舟
- 廖阳平
- 李鹏
- 程云峰
- 不公告发明人
- 刘超
- 李朋
- 罗嗣恒
- 仇志凌
- 何志伟
- 刘佳
- 刘荣堂
- 吴占雄
- 员朝鑫
- 周斌
- 周誉
- 唐伟
- 宋斌
- 尹超
- 张东
- 张子凤
- 张孝飞
- 张明
- 戴礼智
- 文利
- 曾毓
- 李刚
- 李海雄
- 李芸
- 杜露男
- 杨华威
- 林琳
- 楼佳祥
- 沈伟亮
- 温小林
- 王剑立
- 王勇
- 石改辉
- 胡水华
- 芮国强
- 花跃学
- 蔡勇
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摘要:
ADI公司的ADG7421F是低电压,双单刀单掷(SPST)低导通电阻开关,在源极引脚上具有过压保护,掉电保护和过压检测功能.当没有电源时,开关保持关闭状态,开关输入为高阻抗.上电时,如果任何一个Sx引脚上的模拟输入信号电平超过VDD或VSS的阈值电压VT,该开关自动关闭,数字FF(故障标志)引脚下降到逻辑低电平,以指示故障.在通电和断电条件下,相对接地电压高达+60 V或-60 V的输入信号电平都将被屏蔽.
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陈超鑫;
肖林松;
陈岗;
周学成
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摘要:
本文系统提供了一种嵌入式文件系统的保护及恢复方法,在系统上电后,从挂载开始,就进入保护措施,对DBR、FAT、DIR区的数据正确性进行检测,并采取对应的恢复操作,从系统数据准确性的角度保障系统正常运行,在嵌入式系统的保护上具有极大意义。包括以下步骤:嵌入式系统上电后,进行系统相关初始化;检测各分区是否挂载成功;对DBR、FAT、DIR区进行有效性检测;若挂载不成功,对DBR、FAT、DIR区重新格式化,系统执行恢复参数操作;系统正常时的掉电保护。
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刘修泉;
杨伟;
李艳红
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摘要:
为解决数控机床掉电重启后用户程数据丢失的问题,运用TRIZ方法对RAM存储器掉电保护电路系统进行了改进与优化设计.首先对RAM存储器掉电保护电路存在的问题进行了描述,采用功能分析、因果链分析对该初始问题进行了全面深入剖析,找出关键问题,然后利用物理矛盾和裁剪工具、物场模型和标准解建立3个解决方案模型,并对3个方案进行评估,将最优方案实施,数控机床掉电重启后用户程序数据不再丢失.利用TRIZ创新方法可以有效解决实际的工程问题,验证了方案优化设计可行性,为以后实际工程问题提供了一种新思路.
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石改辉;
李晓庆
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摘要:
在记录设备中,异常掉电容易造成记录设备数据丢失,甚至损伤磁盘,直接影响磁盘使用寿命.论文设计了一种掉电保护机制,利用硬件电路产生掉电信号,软件捕获并处理掉电信号,从而实现异常掉电后对磁盘的安全操作,保证数据的完整性,延长磁盘使用寿命,为记录设备的可靠性提供了安全保障.
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袁俊波
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摘要:
使用能量回馈变频器驱动的电梯系统,其前端一般使用LCL电路滤波并网。电梯运行过程中有可能发生电网掉电的情况,掉电时能量回馈变频器整流侧的PWM电压作用在LCL电路上,会产生高频高压,这可能损坏变频器内部器件。针对这一现象进行了分析和计算,提出一种高频检测保护方法,实验证明,该方法可快速、有效地实现保护。
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苏伟;
冯曦;
周芝梅;
胡毅;
唐晓柯
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摘要:
对安全芯片非易失性存储器(NVM)的数据掉电保护原理进行分析.考虑到软件的处理速度不能满足安全芯片对数据存储的性能要求等因素,提出一种以硬件方式实现的NVM数据掉电保护的解决方案.该方案采用乒乓结构,将两块同样大小的Flash空间轮流作为目标区和备份区,每次更新完成后需要对备份标志及备份次数进行更新.如果更新过程中芯片发生掉电,再次上电后通过比较两块区域的备份标志以及备份次数,就可以判断出哪块区域的数据是有效的.该方案不但能保证安全芯片非易失性存储器(NVM)的数据掉电不丢,而且能提高NVM数据更新的性能.
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Zhang Menghua;
Xue Haiwei;
Yu Zongguang;
Zhang Ji;
Chen Zhenjiao
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摘要:
经常在MCU等应用系统中遇到系统电源电压出现欠压或意外掉电的情况,导致MCU的程序“跑飞”或丢失重要的数据.为了尽量避免这些情况的出现,掉电检测电路能够检测到系统供电电源异常,以提高系统的抗干扰能力和稳定性.提出一种基于180 nm工艺设计的掉电检测电路,具有结构简单、工作稳定可靠、版图面积小的优点,可集成在MCU等微处理器内部,实现对系统电源电压监测,减少系统的外围器件,降低系统成本.该电路结构可以非常容易地迁移至其他工艺节点,具备良好的工艺迁移特性和应用广泛性.
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陈波;
唐锐;
许少辉
- 《2003第十届全国可靠性物理学术讨论会》
| 2003年
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摘要:
本文主要论述微处理器控制的多圈电位器旋转寿命试验机的研制思想和方法.该试验机可控制六个工位同时工作,通过键盘设定试验中的重要参数,如角度,速度,圈数以及试验周数等,由点阵式液晶屏显示.针对该试验长时间的特点,在试验过程中可能出现的掉电现象,设计了掉电保护功能.
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