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Phased array correction and testing method and correction and testing apparatus

机译:相控阵校正和测试方法和校正和测试装置

摘要

This application discloses a correction and testing system, comprising a first phased array, a second phased array, and a test instrument, wherein the first phased array comprises a first radio frequency RF channel, the test instrument is configured to: determine, based on a coupling signal, an amplitude deviation value and a phase deviation value that correspond to the first RF channel; if the amplitude deviation value and the phase deviation value satisfy a preset error correction condition, correct an amplitude coefficient and a phase coefficient that correspond to the first RF channel to obtain a target amplitude coefficient and a target phase coefficient; and measure performance indicator parameters of the first phased array by using the target amplitude coefficient and the target phase coefficient. The correction and testing system can improve test efficiency, reducing a floor area, and lowering costs.
机译:本申请公开了一种校正和测试系统,包括第一分阶段阵列,第二相位阵列和测试仪器,其中第一相控阵列包括第一射频RF信道,测试仪器被配置为:基于a确定:确定 耦合信号,幅度偏差值和对应于第一RF通道的相位偏差值; 如果幅度偏差值和相位偏差值满足预设纠错条件,则校正对应于第一RF通道的幅度系数和相位系数,以获得目标幅度系数和目标相位系数; 通过使用目标幅度系数和目标相位系数来测量第一分阶段阵列的性能指示器参数。 校正和测试系统可以提高测试效率,减少楼层区域,降低成本。

著录项

  • 公开/公告号US11121464B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUAWEI TECHNOLOGIES CO. LTD.;

    申请/专利号US202016806769

  • 发明设计人 GUANGDING GE;XUBO ZHAO;DESHUANG ZHAO;

    申请日2020-03-02

  • 分类号H01Q3/26;G01R29/08;H04B17/12;H04W24;H04W24/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 21:01:09

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