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ABNORMALITY SENSING APPARATUS, ABNORMALITY SENSING METHOD, AND ABNORMALITY SENSING PROGRAM

机译:异常感测装置,异常感测方法和异常感测程序

摘要

A deviation inclination calculation unit (22) calculates a deviation score by using evaluation data obtained from a subject apparatus as an input, in each of a plurality of outlier detection methods specifying data deviated from other data from among subject data, and calculating deviation scores indicating deviation degrees of the data specified, and calculates deviation inclination information from the deviation scores calculated. An abnormality detection unit (23) calculates, for each abnormality pattern, a similarity degree between deviation sensitivity information indicating sensitivity for each of a plurality of abnormality patterns with respect to each of the plurality of outlier detection methods, and the deviation inclination information calculated, and detects an abnormality of the subject apparatus.
机译:偏差倾斜计算单元(22)通过使用从对象装置获得的评估数据作为输入来计算偏差评分,在多个异常值检测方法中的每一个中指定从对象数据中偏离其他数据的数据,并计算指示的偏差分数指定的数据的偏差度,并从计算的偏差分数计算偏差倾斜信息。对于每个异常模式,对每个异常模式进行异常检测单元(23),其偏差灵敏度信息之间的相似度指示关于多个异常模式中的每一个相对于多个异常转口检测方法的每个异常模式,以及计算的偏差倾斜信息,并检测主题装置的异常。

著录项

  • 公开/公告号EP3795975A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION;

    申请/专利号EP20180922746

  • 发明设计人 TAKEUCHI TOMOHARU;

    申请日2018-06-14

  • 分类号G01M99;G05B23/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-24 17:52:36

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