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A method for determining the light reflection from a to their stain or surface unit constituted by a helicoidal guide surface to be examined.

机译：一种确定从其反射到要检查的螺旋形引导表面的污点或表面单元的光的方法。

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公开/公告号DE849612C

专利类型
公开/公告日1952-09-15

原文格式PDF
申请/专利权人 WOYRSCH EDGAR;
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申请/专利号DE1951W006164
发明设计人 WOYRSCH EDGAR;
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申请日1951-07-01
分类号G01N21/55;
国家 DE
入库时间 2022-08-24 01:08:12

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