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机译:光线的导电体会影响开口的集中或扩大。
公开/公告号FR93650E
专利类型
公开/公告日1969-04-25
原文格式PDF
申请/专利权人 VEB PENTACON DRESDEN KAMERA- UND KINOWERKE;
申请/专利号FR19680137092
发明设计人
申请日1968-01-23
分类号G02B;G03B;
国家 FR
入库时间 2022-08-23 11:55:07
机译: 光线的导电体对开口的集中或扩大有影响
机译: 粒子测试装置,具有光学器件,用于扩大测量单元和检测器之间的光线路径中的散射光的角度,以便将辐射图放置在检测器中位于设备放大位置的位置
机译: 具有导电基板的平版X射线掩模的放大校正系统。