退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:用于电气设备和腐败的延长控制探针
公开/公告号IT943318B
专利类型
公开/公告日1973-04-02
原文格式PDF
申请/专利权人 SCHMERSAL K A U CO;
申请/专利号IT19710071172
发明设计人
申请日1971-12-21
分类号H01H;
国家 IT
入库时间 2022-08-23 07:34:39
机译: 晶圆检查系统,用于将探针卡的晶圆位置准确地控制为半导体设备的电气特性检查的特性检查位置
机译: 控制探针接触压力的电气测试装置及电气测试方法
机译: 用于控制线性氧气探头的氧气泵的电源的装置