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A METHOD OF MEASURING CHARACTERISTICS OF SINTERS BY XXRAY DIFFRACTION

机译：用XX射线衍射法测量烧结矿特性的方法。

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摘要

PURPOSE:Compositions like hematite,amgnetite and wustite and characteristics like reducibility and reduction powdering property of sinters are measured at high accuracy.

机译：用途：赤铁矿，菱铁矿和钙铁矿等成分以及烧结矿的还原性和还原粉化性等特性均可以高精度测量。

著录项

公开/公告号JPS51124602A

专利类型
公开/公告日1976-10-30

原文格式PDF
申请/专利权人 NIPPON KOKAN KK;
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申请/专利号JP19750049532
发明设计人 NAGAOKA SEISHIROU;YOSHIKOSHI HIDEYUKI;KOMATSU OSAMU;TERASAKA SHIYOUJI;
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申请日1975-04-23
分类号C22B1/16;C22B1/14;G01N1/28;G01N23/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-23 03:21:38

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