机译:沿纸,纸板和均匀材料的厚度方向进行填充材料和/或涂层材料的程序执行分配,并且不伴随测量这些材料的含量,测量放射性同位素产生的放射性同位素,样品产生的纯度所述程序和方法的应用
公开/公告号JPS60170752A
专利类型
公开/公告日1985-09-04
原文格式PDF
申请/专利号JP19840014559
发明设计人 YUHANI KUUSHI;
申请日1984-01-31
分类号G01N23/06;G01N23/22;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 08:27:55