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METHOD OF INVESTIGATING STRUCTURAL PERFECTION OF MONOCRYSTALS

机译：研究单晶结构缺陷的方法

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摘要

the invention относитс of рентгеноструктурного analysis and can использоватьс under study. structural defects монокристаллов.the purpose of изобретени - повьшение sensitivity analysis благодар rel

机译：本发明涉及X射线结构分析，可以在研究中使用。单晶中的结构缺陷本发明的目的是由于相对于分子密度的增加而增加了灵敏度分析

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公开/公告号SU1402873A1

专利类型
公开/公告日1988-06-15

原文格式PDF
申请/专利权人 INST KRISTALLOGRAFII IM.A.V.SHUBNIKOVA;
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申请/专利号SU19864096506
发明设计人 CHUKHOVSKIJ FELIKS NSU;KAZIMIROV ALEKSANDR YUSU;KOVALCHUK MIKHAIL VSU;
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申请日1986-07-18
分类号G01N23/20;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 06:53:36

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